絕緣電阻測(cè)試儀常見故障及解決方法

1.在絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí)積極性，絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系奮勇向前，為什么?
絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可 反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí)實施體系，在測(cè)試過程的開始階段組建，絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將 電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值效果較好。顯然重要的意義，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大等多個領域，這一充電過程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)再獲。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積 決定(單位為秒)。請(qǐng)注意，給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過的電流體驗區，在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的增多。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕 緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量有望，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小進一步推進。
如：試品容量為0.15μF，則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9(秒)即在18秒時(shí)刻方案，電容上的充電電流仍有11.3μA應用的選擇。
由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ左右，則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ大幅增加。這種 試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變傳承，即容量小等特點，測(cè)試阻值大；容量大綠色化發展，測(cè)試阻值小至關重要。
所以，為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15s用上了，R60s的試值提升行動，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測(cè)試儀。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA關註、1mA研究進展、2mA、5mA連日來，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀快速融入。

2.為什么測(cè)絕緣時(shí)，不但要求測(cè)單純的阻值系統，而且還要求測(cè)吸收比增強，極化指數(shù)，有什么意義交流等？
在絕緣測(cè)試中更加廣闊，某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能反映試品絕緣的優(yōu)劣的，這是由于以下兩方面原因提高，一方面可以使用，同樣的絕緣材料，體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣 電阻小紮實，體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大效高化。另一方面保持競爭優勢，絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比過程和極化過程。所以發展機遇，電力系統(tǒng)要求在主變壓器長效機製、電纜、電機(jī)等許 多場(chǎng)合的絕緣測(cè)試中應(yīng)測(cè)量吸收比-即R60s和R15s的比值全技術方案，和極化指數(shù)-即R10min和R1min比值分享，并以此數(shù)據(jù)來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。

3．在絕緣電阻測(cè)試儀高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中信息化，為什么要求儀表接"G"端連線方式之一？
在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時(shí)新型儲能，被測(cè)試品表面受潮濕有力扭轉，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大一站式服務，而儀表"G"端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路廣度和深度，使泄漏電流不經(jīng)過儀表的測(cè)試回路，消除泄漏電流引起的誤差引領作用。