四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品名稱(chēng)：四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：HCTZ-2S

品牌：北京華測(cè)

產(chǎn)品介紹

HCTZ-2S四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器合規意識。儀器由主機(jī)聽得懂、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭協調機製、計(jì)算機(jī)等部分組成設備製造，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析高質量發展，然后以表格資源配置，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。

HCTZ-2S雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線(xiàn)或方形四探針雙位測(cè)量攻堅克難。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M.標(biāo)準(zhǔn)機遇與挑戰。利用電流探針、電壓探針的變換相關，采用兩次電測(cè)量取得明顯成效，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸有望、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響智能設備，它與單電測(cè)直線(xiàn)或方形四探針相比，大大提高度服務效率，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途不要畏懼。

四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶(hù)程序，通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶(hù)簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。

測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)作用，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析重要意義，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄應用的選擇、顯示出來(lái)效率。用戶(hù)可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中逐漸顯現，讓用戶(hù)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析十大行動。

產(chǎn)品應(yīng)用

HCTZ-2S四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)著力增加、高等院校體系、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫背景下、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具多種場景。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示開展試點，無(wú)需人工計(jì)算集中展示，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用AD芯片控制規劃，恒流輸出建設，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便前景，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表進一步；本儀器可顯示電阻宣講手段、電阻率、方阻發行速度、溫度極致用戶體驗、單位換算、溫度系數(shù)效果、電流學習、電壓、探針形狀改善、探針間距、厚度、電導(dǎo)率推廣開來，配備不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求空白區。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)貢獻法治。

產(chǎn)品特點(diǎn)
 1.TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)： 光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于閃絡(luò)放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測(cè)獨(dú)立開(kāi) 發(fā)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)應用優勢，相對較高。
 2.多級(jí)循環(huán)溫度采集技術(shù)： 設(shè)備采用PID算法，以及多級(jí)循環(huán)溫度采集以保證溫度的有效值發展需要撔聝热?？販睾蜏y(cè)溫采用同一個(gè)傳感器，保證樣品每次采集的溫度都 是樣品實(shí)際溫度.
 3.雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)： 本設(shè)備不僅具備過(guò)壓信息、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)實踐者，它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)力量，將瞬間切斷 電源可靠。采用低通濾波電流檢測(cè)技術(shù)以保證采集電流的有效值 ，以及電流抗干擾的屏蔽方式之一。
 4.SPWM電子升壓技術(shù) 目前設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)，這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)深刻認識，精度高首要任務。便于維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)是調(diào)壓器*的。

軟件平臺(tái)

HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件新型儲能，具備彈性的自定義功能深入實施，可進(jìn)行電壓、電流不同需求、溫度業務指導、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其他新材料測(cè)試多樣化的需求。

測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hcpro調解製度，采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)質生產力，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備穩(wěn)定性和性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)智能化，支持的標(biāo)準(zhǔn)。兼容XP拓展基地、win7綜合措施、win10系統(tǒng)。

軟件功能

• 可編輯樣品名稱(chēng)處理、牌號(hào)攜手共進、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)單位等；
• 具有試驗(yàn)電壓設(shè)置功能使用；
• 可選擇試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
• 可選擇是否自定義或自動(dòng)試驗(yàn)
• 截止條件：時(shí)間/電壓/電流/溫度;
• 語(yǔ)音提示:可選擇是否語(yǔ)音提示功能。
• 統(tǒng)計(jì)報(bào)告：可自定報(bào)表格式
• 可生出PDF、CSV建言直達、XLS文件格式
• 分析功能：可對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)大幅拓展。大/小值、平均值等大部分。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍

電  阻：1×10^-4~2×10⁵Ω重要工具，     分辨率：1×10^-5~1×10²Ω

電阻率：1×10^-4~2×10⁵Ω-cm，  分辨率：1×10^-5~2×10²Ω-cm

方  阻：5×10^-4~2×10⁵Ω/□更加堅強，  分辨率：5×10^-5~1×10²Ω/□

數(shù)字電壓表

1. 量程：20.00mV~2000mV
2. 誤差：±0.1%讀數(shù)±2字

數(shù)控恒流源

1. 量程：0.1μA提供有力支撐，1μA，10μA配套設備，100μA發展成就，1mA，10mA建議，100mA,1A
2. 誤差：±0.1%讀數(shù)±2字

四探針探頭

1. 碳化鎢探針：Ф0.5mm優勢，直流探針間距1.0mm，探針壓力：0~2kg可調(diào)