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介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品介紹及設(shè)備優(yōu)勢

更新時間:2019-09-17      點(diǎn)擊次數(shù):1253

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品介紹及設(shè)備優(yōu)勢

 

 

一、產(chǎn)品介紹

絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)集聚效應、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表貢獻、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成提升。它依據(jù)GB/T 1409-2006持續、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。

系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的較好解決方案高品質。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品互動講,配用Q表作為指示儀器統籌。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計(jì)算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗

(tanδ)支撐能力。

 

二高質量、設(shè)備優(yōu)勢

1. DDS數(shù)字直接合成的信號源,確保信源的高葆真適應性、幅度的高穩(wěn)定。頻率到0.1Hz,確保高Q值時測量的度遠(yuǎn)超DPLL信號源有效保障。Q分辨率至0.1Q激發創作,tanδ分辨率至0.00001。

2. 雙掃描技術(shù)-測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能體系。

3. 雙數(shù)碼化調(diào)諧-數(shù)碼化頻率調(diào)諧宣講活動,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4自動化測量技術(shù)-對測試件實(shí)施Q值註入新的動力、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動測量快速融入。

5計(jì)算機(jī)自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化一使測試回路殘余電感減至低,*Q讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑工藝技術,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小發揮作用。

6. 能對固體絕緣材料在100kHz?100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

7. 大屏幕菜單式顯示多參數(shù):介電常數(shù)(ε),介質(zhì)損耗角(tanδ),Q值系統,測試頻率十分落實,調(diào)諧狀態(tài)和調(diào)諧電容值等。

8. DSS數(shù)字合成信號發(fā)生10kHz?70MHz(QBG-3E),10kHz?110MHz(QBG-3F),50kHz? 160MHz(AS2853A)測試信號逐步顯現。獨(dú)立信號源輸出口作用,所以本機(jī)又是一臺合成信號源。

9. Q值量程自動/手動量程控制近年來。

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