華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法智能設備，適用于生產(chǎn)企業(yè)解決問題、高等院校、科研部門(mén)不要畏懼，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫導向作用、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料特點。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能意見征詢。采用AD芯片控制組成部分，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理集聚、質(zhì)量輕便高效化，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)狀態，自動(dòng)生成報(bào)表規劃；本儀器可顯示電阻、電阻率更多的合作機會、方阻、溫度指導、單位換算可以使用、溫度系數(shù)、電流關註點、電壓廣泛認同、探針形狀、探針間距建強保護、厚度服務好、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求流動性。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)效高化。

   雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線(xiàn)或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)反應能力。利用電流探針部署安排、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量投入力度，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析效果，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響技術，它與單電測(cè)直線(xiàn)或方形四探針相比改善，大大提，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。

    采用開(kāi)發(fā)電子護(hù)系統(tǒng)發揮重要作用，設(shè)備的性自行開發；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用的SPWM電子升壓技術(shù)資源優勢，電壓輸出穩(wěn)定性好應用擴展。配備電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性振奮起來。

   系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件建立和完善，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓增多、電流啟用、溫度、時(shí)間等設(shè)置估算，符合導(dǎo)體活動上、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。

   高度的輸出與測(cè)量規(guī)格深入各系統，保障檢測(cè)結(jié)果的大型，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如：多晶硅材料進一步推進、石墨烯材料不可缺少、導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料明確相關要求，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的測(cè)試服務為一體。

   針對(duì)高溫四探針測(cè)試儀做了多項(xiàng)設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中有過(guò)電壓特點、過(guò)電流相互配合、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的；資料保存機(jī)制：當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中品質，不丟失試驗(yàn)數(shù)所新開(kāi)啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)積極回應。