鐵電薄膜鐵電——電滯回線的測量方法選擇

    目前，測量電滯回線的方法較多。其中測試方法簡單趨勢、應(yīng)用廣泛的是Sawyer-Tower電路有力扭轉，如圖所示，其中虛框部分為鐵電薄膜樣品的等效電 路一站式服務，Cxi為線性感應(yīng)等效電容廣度和深度，Rx為鐵電薄膜樣品的 漏電導(dǎo)及損耗等效電阻，Cxs為與自發(fā)極化反轉(zhuǎn)對應(yīng)的非線性等效電容引領作用。

Sawyer-Tower電路

    在理想情況下加強宣傳，若只考慮Cxs的作用（認(rèn)為Cxi與Rx開路）,很容易證明Uy與鐵電薄膜樣品的極化強(qiáng)度P成正比。但一般情況下用的舒心，鐵電薄膜樣品同時具有漏電導(dǎo)和線性感應(yīng)電容技術發展，如果要獲得鐵電薄 膜樣品的木征電滯回線，必須在測貴過程中對樣品的漏電導(dǎo)和線性感應(yīng)電容進(jìn)行合適的補(bǔ)償前來體驗，但這在實(shí)際是較難處理的自主研發。另外，此電路中外接積分電容Co的選取和精度會影響測試的度更加廣闊，當(dāng)然給鐵屯薄膜樣品提供的信號源U的頻率對測試結(jié)果也有很大的影響損耗，這樣就較難對測試結(jié)果進(jìn)行標(biāo)定和。

    我們選用如下圖所示的測量電路不斷發展，此電路由信號源U積極影響、被測樣品、電流放大器和積分器組成緊密協作。信號源U提供給被測樣品的電流經(jīng)電流放大器放大再經(jīng)積分器積分后得到Uy進(jìn)入測量系統(tǒng)越來越重要。即使被測樣品端加的電壓U為零，積分器上仍然維持電壓,被測樣品端是虛地的發揮重要作用，因此醒悟，此測試電路討稱為虛地模式。此電路取消了外接電容Co,可減小寄生元件的影響高質量。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容C1的精度也逐步提升，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和註入了新的力量，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測貴準(zhǔn)確度重要的作用。

電滯回線測量電路