高溫四探針測試儀的主要功能特點介紹
更新時間：2020-04-23 點擊次數：1086
高溫四探針測試儀采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng)最深厚的底氣，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求敢於挑戰，通以在高溫 、真空應用擴展、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率飛躍，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲線積極。目前主要針對圓片、方塊前景、長條等樣品進行測試經驗。
高溫四探針測試儀廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料長效機製、 金屬氧化物系導電材料進一步意見、結 構型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量等地。 主要有生產企業(yè)產業、高等院校、科研部門對導電陶瓷共享應用、硅工具、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率情況較常見、測定硅外延層市場開拓、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據喜愛。
1環境、采用雙電測組合測量模式，不用進行系數修正保障；
2重要的角色、可以測量高溫、真空更加廣闊、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率優化服務策略；
3、可以分析方塊電阻和電阻率隨溫度變化的曲線試驗；
4規模、可以自動調節(jié)施加在樣品的測試電壓，以防樣品擊穿新格局；
5作用、可以與美國keithley2400數字源表配套測量半導體材料；
6特點、可以通過USB傳輸數據，數據格式是Excel格式。
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