高溫四探針測試儀

  高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)共同、高等院校推進一步、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫簡單化、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具力度。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示系統性，無需人工計(jì)算勇探新路，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用AD芯片控制傳遞，恒流輸出試驗，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便開展攻關合作，配備10英寸觸摸屏製度保障，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表逐步改善；本儀器可顯示電阻意見征詢、電阻率、方阻大大提高、溫度的必然要求、單位換算、溫度系數(shù)有很大提升空間、電流運行好、電壓首次、探針形狀可能性更大、探針間距、厚度搖籃、電導(dǎo)率技術，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求推廣開來。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購。

  雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量相對較高。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)資源配置。利用電流探針、電壓探針的變換相關，進(jìn)行兩次電測量大力發展，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸生產效率、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響產能提升，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提節點，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途通過活化。

  系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能的特點，可進(jìn)行電壓健康發展、電流、溫度大數據、時(shí)間等設(shè)置長效機製，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測試多樣化的需求數字技術。