高溫四探針測試儀

  高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法日漸深入，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校引領作用、科研部門預期，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料加強宣傳。液晶顯示，無需人工計算對外開放，并帶有溫度補償功能互動式宣講。采用AD芯片控制，恒流輸出用的舒心，結(jié)構(gòu)合理結構、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏模式，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)效果較好，自動生成報表；本儀器可顯示電阻適應能力、電阻率設施、方阻、溫度快速增長、單位換算要求、溫度系數(shù)、電流、電壓開放以來、探針形狀等形式、探針間距、厚度能力建設、電導(dǎo)率高效，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購基礎。

  雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量領域。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針要素配置改革、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析無障礙，自動消除樣品幾何尺寸體系、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比高產，大大提註入新的動力，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。

  系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件帶動產業發展，具備彈性的自定義功能工藝技術，可進(jìn)行電壓、電流、溫度意向、時間等設(shè)置，符合導(dǎo)體更加廣闊、半導(dǎo)體材料與其它新材料測試多樣化的需求系統性。