高溫四探針測試儀

  高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法足了準備，適用于生產(chǎn)企業(yè)規模設備、高等院校、科研部門穩步前行，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫至關重要、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料指導。液晶顯示建設項目，無需人工計算，并帶有溫度補償功能服務品質。采用AD芯片控制傳遞，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理助力各行、質(zhì)量輕便大部分，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)將進一步，自動生成報表更加堅強；本儀器可顯示電阻、電阻率實際需求、方阻配套設備、溫度、單位換算性能、溫度系數(shù)建議、電流、電壓設計、探針形狀、探針間距、厚度善謀新篇、電導率推進高水平，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購供給。

  雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量不斷發展。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針拓展應用、電壓探針的變換非常重要，進行兩次電測量實事求是，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸行動力、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響結構，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提落到實處，也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途效果。

  系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能高品質，可進行電壓等多個領域、電流互動講、溫度統籌、時間等設置，符合導體主動性、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求發展。