1.應(yīng)在“Ｒｘ”兩端開路時(shí)調(diào)零  如接在電阻箱或被測量物體上時(shí)調(diào)零后測量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差著力提升。一般一次調(diào)零后在測試過程中不需再調(diào)零，但改變測量電壓后可能要重新調(diào)零建設項目。  

2.測量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔  每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字動手能力，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測電阻值傳遞。若顯示“1”時(shí)充分，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止戰略布局。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥重要意義，否則有可能損壞儀器（機(jī)內(nèi)有過電流保護(hù)電路）規則製定。除10⁴ Ω檔之外講道理，當(dāng)顯示低于1.99，表示過量程應(yīng)換低檔表現明顯更佳。

3.測試過程中不能觸摸微電流測試端 微電流測試端*怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊更加廣闊。所以在開機(jī)后和測試過程中不能與微電流測試端接觸，以免損壞儀表技術先進。  

4.在測試過程中不要隨意改動(dòng)測量電壓示範，隨意改動(dòng)測量電壓可能因電壓的過高或電流過大損壞被測試器件或測試儀器，而且有的材料是非線性的提高，即電壓與電流是不符合歐姆定律發展基礎，有改變電壓時(shí)由于電流不是線性變化，所以測量的電阻也會(huì)變化有很大提升空間。

5.在測量高阻時(shí)要求，應(yīng)采用屏蔽盒將被測物體屏蔽，在測量大于10¹⁰ Ω以上時(shí)供給，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)不斷發展。