四探針法通常用來測量半導體的電阻率大力發展。四探針法測量電阻率有個非常大的優(yōu)點，它不需要較準生產效率；有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準產能提升。

     與四探針法相比，傳統(tǒng)的二探針法方便些節點，因為它只需要操作兩個探針充分發揮，但是處理二探針法得到的數(shù)據(jù)卻很復雜。如圖一成就，電阻兩端有兩個探針接觸重要方式，每個接觸點既測量電阻兩端的電流值，也測量了電阻兩端的電壓值系統。

我們希望確定所測量的電阻器的電阻值非常重要，總電阻值：

RT=V/I=2RW+2RC+RDUT；其中RW是導線電阻空間廣闊，RC是接觸電阻營造一處，RDUT所要測量的電阻器的電阻，顯然用這種方法不能確定RDUT的值知識和技能。矯正的辦法就是使用四點接觸法取得顯著成效，即四探針法。如圖二實現，電流的路徑與圖一中相同不容忽視，但是測量電壓使用的是另外兩個接觸點。盡管電壓計測量的電壓也包含了導線電壓和接觸電壓服務體系，但由于電壓計的內(nèi)阻很大說服力，通過電壓計的電流非常小，因此分析，導線電壓與接觸電壓可以忽略不計表示，測量的電壓值基本上等于電阻器兩端的電壓值全會精神。

通過采用四探針法取代二探針法，盡管電流所走的路徑是一樣的拓展基地，但由于消除掉了寄生壓降集中展示，使得測量變得精que了。四探針法在后來體系流動性，已經(jīng)變得十分普及探索創新，命名為四探針法。

Huace-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法實現了超越，適用于生產(chǎn)企業(yè)新產品、高等院校、科研部門橋梁作用，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫長遠所需、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料求得平衡。液晶顯示紮實做，無需人工計算，并帶有溫度補償功能至關重要。采用AD芯片控制提供深度撮合服務，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理的發生、質(zhì)量輕便組成部分，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)新的動力，自動生成報表的過程中；本儀器可顯示電阻、電阻率廣泛關註、方阻促進進步、溫度、單位換算鍛造、溫度系數(shù)競爭激烈、電流持續創新、電壓改善、探針形狀、探針間距協調機製、厚度信息化、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求實踐者。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購取得明顯成效。

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量約定管轄。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針創新的技術、電壓探針的變換發揮，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析快速增長，自動消除樣品幾何尺寸開放以來、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比高質量，大大提高精que度提供了有力支撐，也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。