四探針法通常用來測量半導體的電阻率越來越重要。四探針法測量電阻率有個非常大的優(yōu)點切實把製度，它不需要較準；有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準改革創新。

     與四探針法相比最新，傳統(tǒng)的二探針法方便些，因為它只需要操作兩個探針自行開發，但是處理二探針法得到的數(shù)據(jù)卻很復雜敢於挑戰。如圖一，電阻兩端有兩個探針接觸應用擴展，每個接觸點既測量電阻兩端的電流值，也測量了電阻兩端的電壓值振奮起來。

我們希望確定所測量的電阻器的電阻值建立和完善，總電阻值：

RT=V/I=2RW+2RC+RDUT；其中RW是導線電阻增多，RC是接觸電阻啟用，RDUT所要測量的電阻器的電阻，顯然用這種方法不能確定RDUT的值。矯正的辦法就是使用四點接觸法支撐作用，即四探針法穩步前行。如圖二，電流的路徑與圖一中相同著力提升，但是測量電壓使用的是另外兩個接觸點指導。盡管電壓計測量的電壓也包含了導線電壓和接觸電壓，但由于電壓計的內(nèi)阻很大動手能力，通過電壓計的電流非常小服務品質，因此，導線電壓與接觸電壓可以忽略不計充分，測量的電壓值基本上等于電阻器兩端的電壓值過程。

通過采用四探針法取代二探針法，盡管電流所走的路徑是一樣的融合，但由于消除掉了寄生壓降進一步完善，使得測量變得精que了。四探針法在后來提升，已經(jīng)變得十分普及影響，命名為四探針法。

Huace-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法優化服務策略，適用于生產(chǎn)企業(yè)技術先進、高等院校、科研部門技術節能，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫提高、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料延伸。液晶顯示有很大提升空間，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用AD芯片控制認為，恒流輸出，結構合理國際要求、質(zhì)量輕便紮實，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)新趨勢，自動生成報表自動化方案；本儀器可顯示電阻、電阻率結構、方阻空間廣闊、溫度落到實處、單位換算、溫度系數(shù)、電流營造一處、電壓、探針形狀線上線下、探針間距保供、厚度、電導率支撐能力，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求產品和服務。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量協同控製。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準不斷創新。利用電流探針、電壓探針的變換體驗區，進行兩次電測量去突破，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸提供了遵循、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精que度利用好，也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途參與水平。