高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)提供了有力支撐、高等院校激發創作、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫進一步意見、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具增幅最大。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示生產能力，無需人工計算標準，并帶有溫度補償功能。
高溫四探針測試儀的測量原理
測量電阻率的方法很多堅持好，如三探針法即將展開、電容-電壓法、擴展電阻法等,四探針法則是一種廣泛采用的標(biāo)準準
法特性，儀器采用經(jīng)典直排四探針原理傳承，同時采用了雙電測組合四探針法。
經(jīng)典的直排四探針法測試電阻率導向作用，要求使用等間距的探針方案，如果針間距離不等或探針有游移，就會造成實驗差十大行動。當(dāng)被測片較小或在大片邊緣附近測量時左右，要求計入電場畸變的影響進行邊界修正背景下。
采用雙電測組合四探針的出現(xiàn)，為提高薄膜電阻和體電阻率測量準確度創(chuàng)造了有利條件可靠保障。
高溫四探針測試儀采用雙電測組合四探針法的優(yōu)勢
采用雙電測組合四探針法進行測試自然條件，測試結(jié)果與探針間距無關(guān)，能夠消除間距不等及針尖機械游移變化的影響開展，因此四探針測試臺允許使用不等距探針頭互動互補。
采用雙電測組合四探針法具有自動修正邊界效應(yīng)的功能，對小尺寸被側(cè)片或探針在較大樣品邊緣附近時,不需要對樣品做幾何測量意向，也不需要尋找修正因子意料之外。
采用雙電測組合四探針法，不移動四探針針頭形式，同時使用三種模式測量置之不顧，既可計算得到測試部位的電阻均勻性。
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