高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)創新的技術、高等院校設計能力、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫有序推進、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具適應性。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示深入開展，無需人工計算更優美，并帶有溫度補償功能。
高溫四探針測試儀的測量原理
測量電阻率的方法很多，如三探針法更為一致、電容-電壓法、擴展電阻法等,四探針法則是一種廣泛采用的標準準
法，儀器采用經(jīng)典直排四探針原理落地生根，同時采用了雙電測組合四探針法占。
經(jīng)典的直排四探針法測試電阻率，要求使用等間距的探針成效與經驗，如果針間距離不等或探針有游移更讓我明白了，就會造成實驗差。當被測片較小或在大片邊緣附近測量時拓展，要求計入電場畸變的影響進行邊界修正提供堅實支撐。
采用雙電測組合四探針的出現(xiàn)，為提高薄膜電阻和體電阻率測量準確度創(chuàng)造了有利條件。
高溫四探針測試儀采用雙電測組合四探針法的優(yōu)勢
采用雙電測組合四探針法進行測試創造更多，測試結(jié)果與探針間距無關(guān)，能夠消除間距不等及針尖機械游移變化的影響探索創新，因此四探針測試臺允許使用不等距探針頭開展。
采用雙電測組合四探針法具有自動修正邊界效應(yīng)的功能，對小尺寸被側(cè)片或探針在較大樣品邊緣附近時,不需要對樣品做幾何測量前來體驗，也不需要尋找修正因子簡單化。
采用雙電測組合四探針法，不移動四探針針頭發揮重要帶動作用，同時使用三種模式測量開拓創新，既可計算得到測試部位的電阻均勻性。
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