HCTZ-2S型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備推進一步。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的經過，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。

  儀器由主機(jī)力度、探針測試臺明確了方向、四探針探頭、計算機(jī)等部分組成勇探新路，測量數(shù)據(jù)既可由四探針測試儀主機(jī)直接顯示單產提升，亦可與計算機(jī)相連接通過四探針軟件測試系統(tǒng)控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機(jī)中加以分析試驗，然后把測試數(shù)據(jù)以表格勞動精神，圖形直觀地記錄、顯示出來製度保障。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看動手能力，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析意見征詢。

  儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計提升、裝配。具有功能選擇直觀的必然要求、測量取數(shù)快研究成果、精度高、測量范圍寬完善好、穩(wěn)定性好大面積、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點部署安排。

設(shè)備保養(yǎng)：

經(jīng)常保持設(shè)備和計算機(jī)的清潔搖籃、衛(wèi)生技術。

預(yù)防高溫推廣開來、過濕、灰塵、腐蝕性介質(zhì)資源配置、水等浸入機(jī)器或計算機(jī)內(nèi)部信息。 

定期檢查，保持零件大力發展、部件的完整性豐富內涵。

注意事項：

1、儀器操作前請您仔細(xì)閱讀使用說明書產能提升，規(guī)范操作

2適應性、輕拿輕放，避免儀器震動通過活化，水平放置落地生根，垂直測量

3、儀器不使用時請切斷電源健康發展，連接線無需經(jīng)常拔下有效保障，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象

4、探針筆測試結(jié)束長效機製，套好護(hù)套講實踐，避免人為斷針

  本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠奮戰不懈、科研單位改革創新、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻測試。