HCTZ-2S型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備先進的解決方案。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器領域。

  儀器由主機(jī)研究進展、探針測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成構建，測量數(shù)據(jù)既可由四探針測試儀主機(jī)直接顯示，亦可與計(jì)算機(jī)相連接通過四探針軟件測試系統(tǒng)控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)大幅增加，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析平臺建設，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄服務延伸、顯示出來先進技術。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中貢獻力量，讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析合作。

  儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配預判。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高調解製度、測量范圍寬深入、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊覆蓋範圍、易操作等特點(diǎn)一站式服務。

設(shè)備保養(yǎng)：

經(jīng)常保持設(shè)備和計(jì)算機(jī)的清潔、衛(wèi)生前沿技術。

預(yù)防高溫支撐作用、過濕積極性、灰塵、腐蝕性介質(zhì)解決、水等浸入機(jī)器或計(jì)算機(jī)內(nèi)部性能。 

定期檢查，保持零件不斷豐富、部件的完整性方案。

注意事項(xiàng)：

1、儀器操作前請您仔細(xì)閱讀使用說明書同時，規(guī)范操作

2實施體系、輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)幅度，水平放置技術創新，垂直測量

3、儀器不使用時(shí)請切斷電源開展研究，連接線無需經(jīng)常拔下高質量，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象

4、探針筆測試結(jié)束力量，套好護(hù)套質量，避免人為斷針

  本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠表示、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻測試緊迫性。