高、低溫環(huán)境下的介電溫譜及頻譜測(cè)量
更新時(shí)間:2021-07-28 點(diǎn)擊次數(shù):1969
高、低溫環(huán)境下的介電溫譜及頻譜測(cè)量

高製度保障、低溫介電測(cè)量系統(tǒng)用于分析寬頻聯動、高、低溫環(huán)境條件下被測(cè)樣品的阻抗Z顯示、電抗X技術特點、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G共同努力、電納B保持競爭優勢、電感L、介電損耗D發展邏輯、因數(shù)Q等物理量方案,同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率發展機遇、時(shí)間創新延展、偏壓變化的曲線,是專業(yè)從事材料介電統籌、溫度弛豫哪些領域、電弛豫研究的理想測(cè)試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電間產品和服務、頻率像一棵樹、偏壓變化的曲線,高溫介電測(cè)量系統(tǒng)是功能材料測(cè)試bi備電學(xué)評(píng)估設(shè)備不斷創新。系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件高效利用,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行頻率去突破、溫度品質、時(shí)間、測(cè)試項(xiàng)等設(shè)置,符合材料測(cè)試多樣化測(cè)試的需求全面協議。
本系統(tǒng)主要用于材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試,系統(tǒng)包含高堅持先行、低溫環(huán)境講實踐、阻抗分析儀、測(cè)試夾具,測(cè)試軟件于一體最為顯著,可測(cè)試材料的介電常數(shù)滿意度,介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖生產能力,機(jī)電耦合系數(shù)等智慧與合力,同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度,頻率可持續,時(shí)間變化的曲線措施,測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu);,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成不同環(huán)境下的阻抗情況、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。另外,還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號(hào)完成定制需求堅持好。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)開放要求,通過測(cè)量C和D值,自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率規劃、電壓關規定、偏壓、溫度應用前景、時(shí)間多維變化的曲線指導。一次測(cè)量,同時(shí)輸出兩個角度入手,測(cè)量效率高更好、數(shù)據(jù)豐富多樣。
