電弱點(diǎn)測試儀設(shè)備工作原理:

    本測試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓提供了有力支撐，其波動(dòng)為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓前景。銅輥為下電極進一步意見，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)共享應用。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿生產能力，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)標準。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。

保護(hù)設(shè)計(jì):  

1. 電源間斷保護(hù)：如果發(fā)生電源間斷堅持好，主控電器馬上跳閘即將展開，再次來電時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)復(fù)位。

2. 高壓倉開門跳閘：無論在任何狀態(tài)特性，只要打開高壓倉門傳承，將使主控繼電器的線圈失電而跳閘。

3. 電源保險(xiǎn)線：當(dāng)機(jī)內(nèi)故障或試品擊穿后電子開關(guān)未能及時(shí)動(dòng)作時(shí)導向作用，該熔絲自動(dòng)燒斷方案，切斷電源。

4. 接地保護(hù)（主機(jī)后外板）：本機(jī)接地可防止機(jī)殼感應(yīng)高壓十大行動，保護(hù)設(shè)備和人身左右。沒有接地不允許通電。

   華測HCRD-300電弱點(diǎn)測試儀產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試綜合措施，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定可靠保障，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響設計標準。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平開展。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用品牌(如歐姆龍，發揮重要帶動作用，ABB等)意向，有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性文化價值。測量準(zhǔn)確形式，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制不斷完善，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速數字化。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好基礎上。本機(jī)具備多重保護(hù)功能各領域，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓保持競爭優勢、過流進行培訓、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)

   華測其它相關(guān)產(chǎn)品：

可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品

華測儀器--致力于材料電學(xué)測試技術(shù)