高溫測量鐵電參數(shù)測試儀本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路技術發展，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比集聚效應，此電路取消了外接電容集成，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度等形式，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)技術的開發，比較容易定標(biāo)和研究與應用，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量飛躍，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps全面協議、剩余化Pr重要部署、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù)工具，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞智慧與合力、鐵電保持的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電重要的角色。儀器采用一體化設(shè)計(jì)開放要求，實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡單方便平臺建設。