功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)具有哪些強(qiáng)大的測試功能？

功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)是一種用于全面評估功能材料電學(xué)性能的設(shè)備交流。它集成了多種測試技術(shù)和方法基礎，能夠?qū)崿F(xiàn)對材料電學(xué)性能的精確、快速和全面檢測還不大。

HC功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電經過、壓電、熱釋電力度、介電明確了方向、絕緣電阻等電學(xué)測試，以及高勇探新路、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試單產提升。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的接口今年。無論在軟件與硬件方面穩步前行，使本套儀器在未來較易于擴(kuò)展。較加節(jié)省改造時間與硬件成本動手能力。

強(qiáng)大的測試功能

鐵電參數(shù)測試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試逐步改善；

PUND 脈沖測試；

Fatigue 疲勞測試提升；

Retention保持力大大提高；

Imprint印跡；

Leakage current漏電流測試研究成果；

Thermo Measurement 變溫測試功能

壓電參數(shù)測試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測試取得了一定進展，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。

熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試大面積。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流積極參與、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時間的曲線培養。

薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃交流研討；

塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃形式、室溫到800℃

介電溫譜測試功能

用于分析寬頻建設應用、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X信息、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G大力發展、電納B豐富內涵、電感L、介電損耗D產能提升、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量適應性，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率通過活化、時間落地生根、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試健康發展。

熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素有效保障，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變非常重要、玻璃化溫度等等進一步提升，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。

絕緣電阻測試功能

高精zhun度的電壓輸出與電流測量改革創新，保障測試的品質(zhì)知識和技能，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。例如：陶瓷材料新模式、硅橡膠測試實現、PCB、云母組織了、四氟材料電阻測試服務體系、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

高溫四探針測試功能

符合功能材料導(dǎo)體服務為一體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求問題。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)全會精神。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途系統穩定性。

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體，陶瓷材料集中展示，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析實力增強；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃探索創新，高阻選件高至10MΩ帶來全新智能。

電卡效應(yīng)測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。

溫度范圍：-50℃到200℃新產品、熱流時間范圍：1s-1000s去完善，

zui大電壓可達(dá)10kV，

波形：用戶自定長遠所需、脈沖求索、三角波、正弦波規模、任意波形穩定發展、預(yù)定義波形。