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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)具有哪些強(qiáng)大的測(cè)試功能選擇適用?

更新時(shí)間:2024-06-12      點(diǎn)擊次數(shù):646


功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)具有哪些強(qiáng)大的測(cè)試功能?

 

功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)是一種用于全面評(píng)估功能材料電學(xué)性能的設(shè)備提單產。它集成了多種測(cè)試技術(shù)和方法導向作用,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)材料電學(xué)性能的精確、快速和全面檢測(cè)作用。

HC功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電重要意義、壓電、熱釋電應用的選擇、介電效率、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試十大行動。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議重要性、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的接口體系。無論在軟件與硬件方面系統穩定性,使本套儀器在未來易于擴(kuò)展。加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本多種場景。

 

強(qiáng)大的測(cè)試功能

鐵電參數(shù)測(cè)試功能

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試科技實力;

PUND 脈沖測(cè)試;

Fatigue 疲勞測(cè)試集中展示;

Retention保持力可靠保障;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測(cè)試合作;

Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能

壓電參數(shù)測(cè)試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試具有重要意義,也可通過高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量。

熱釋電測(cè)試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流勃勃生機、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線宣講手段。

薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃多種;

塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃極致用戶體驗、室溫到800℃

介電溫譜測(cè)試功能

用于分析寬頻強大的功能、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X充分發揮、導(dǎo)納Y與時俱進、電導(dǎo)G、電納B、電感L結構重塑、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量空白區,同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度貢獻法治、頻率、時(shí)間應用優勢、偏壓變化的曲線相對較高。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試。

熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC

用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素發展需要,諸如分子弛豫創新內容、相轉(zhuǎn)變全方位、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間高質量、活化能等相關(guān)的介電特性信息化。

絕緣電阻測(cè)試功能

zhun度的電壓輸出與電流測(cè)量,保障測(cè)試的品質(zhì)可靠,適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如:陶瓷材料、硅橡膠測(cè)試我有所應、PCB深刻認識、云母、四氟材料電阻測(cè)試管理、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測(cè)試新型儲能。

高溫四探針測(cè)試功能

符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求應用提升。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量不同需求。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途新品技。

塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體發展空間,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析保持穩定;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測(cè)量選件就此掀開,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,高阻選件高至10MΩ。

電卡效應(yīng)測(cè)試功能

還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能又進了一步。

溫度范圍:-50℃到200℃、熱流時(shí)間范圍:1s-1000s生產製造,

zui大電壓可達(dá)10kV拓展基地,

波形:用戶自定、脈沖多元化服務體系、三角波處理、正弦波、任意波形培訓、預(yù)定義波形。

 

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