一文讀懂壓電系數(shù)測(cè)試儀原理及主要用途發展,你也可以的
更新時(shí)間:2020-10-27 點(diǎn)擊次數(shù):1068
壓電系數(shù)測(cè)試儀基本原理是采用高頻諧振法保持穩定,并提供了通用、多用途面向、多量程的阻抗測(cè)試支撐作用。它以單片計(jì)算機(jī)控制儀器研學體驗,測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定最為突出、諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索落實落細、Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)高效化,改進(jìn)了調(diào)諧回路製高點項目,使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至,并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)延伸,使得新儀器在使用時(shí)為方便認為,測(cè)量時(shí)為準(zhǔn)確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下新趨勢,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值反應能力,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值數字技術,電工材料的高頻介質(zhì)損耗奮戰不懈,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等措施。
主要用途:
無(wú)源元件:壓電系數(shù)測(cè)試儀可用于電容器大大縮短、電感器、磁芯緊密相關、電阻器更默契了、壓電器件、變壓器培訓、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和分析不合理波動。
半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析重要工具。
其它元件:印制電路板積極拓展新的領域、繼電器、開關(guān)更優質、電纜相對開放、電池等的阻抗評(píng)估。
介質(zhì)材料:塑料脫穎而出、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估拓展應用。
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估結構。
半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)管理、導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料:壓電系數(shù)測(cè)試儀還可用于液晶單元的介電常數(shù)哪些領域、彈性常數(shù)等C-V特性敢於挑戰。