高溫四探針測試儀提高了薄膜電阻和體電阻率測量精度
更新時(shí)間：2021-11-24 點(diǎn)擊次數(shù)：791
高溫四探針測試儀可以實(shí)現(xiàn)高溫能運用、真空及惰性氣氛條件下測量硅達到、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層不可缺少、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻蓬勃發展。
高溫四探針測試儀是測量電阻率的一種方法，測量電阻率的方法很多積極回應，如三探針法重要性、電容-電壓法、擴(kuò)展電阻法等平臺建設，四探針法則是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法記得牢，高溫四探針測試儀采用經(jīng)典直排四探針原理，同時(shí)采用了雙電測組合四探針法重要的作用。
高溫四探針測試儀測試電阻率更多可能性，要求使用等間距的探針，如果針間距離不等或探針有游移足夠的實力，就會(huì)造成實(shí)驗(yàn)誤差緊迫性。當(dāng)被測片較小或在大片邊緣附近測量時(shí)，要求計(jì)入電場畸變的影響進(jìn)行邊界修正。采用雙電測組合四探針的出現(xiàn)高效，為提高薄膜電阻和體電阻率測量準(zhǔn)確度創(chuàng)造了有利條件溝通協調。
那么高溫四探針測試儀采用雙電測組合四探針法有哪些優(yōu)勢呢？
1體系、采用雙電測組合四探針法進(jìn)行測試保障性，測試結(jié)果與探針間距無關(guān)，能夠消除間距不等及針尖機(jī)械游移變化的影響責任製，因此四探針測試臺(tái)允許使用不等距探針頭十分落實。
2、采用雙電測組合四探針法具有自動(dòng)修正邊界效應(yīng)的功能規則製定，對(duì)小尺寸被測片或探針在較大樣品邊緣附近時(shí)製造業，不需要對(duì)樣品做幾何測量，也不必尋找修正因子關規定。
3發展基礎、采用雙電測組合四探針法，不移動(dòng)四探針針頭建強保護，同時(shí)使用三種模式測量同期，即可計(jì)算得到測試部位的電阻均勻性。
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