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塞貝克系數(shù)電阻測試儀新品隆重上市

更新時間:2025-03-21      點擊次數(shù):144


塞貝克系數(shù)電阻測試儀新品隆重上市


塞貝克系數(shù)電阻測試儀新品隆重上市


產(chǎn)品介紹

熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響橫向協同,它基于三個基本效應:貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應再獲。貝克效應是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發(fā)現(xiàn)的穩定性,描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成。與之相反敢於挑戰,熱電冷卻效應描述通過施加電流獲得溫度差的現(xiàn)象資源優勢。電能和熱能的轉(zhuǎn)換效率是材料物理特性,用塞貝克系數(shù)S表征過程中,其與溫度相關振奮起來。

目前,使用化石燃料生成的二氧化碳導致全球變暖加劇特征更加明顯,而人們也面臨能源枯竭的問題增多,利用熱電轉(zhuǎn)換元件收集余熱并有效利用引起人們的廣泛注意。另外,利用熱電冷卻效應進行制冷是熱電特性的重要應用估算。

隨著化石燃料越來越少,二氧化碳排放量不斷增加達到,全球變暖也在加劇深入各系統,因此有效的熱電轉(zhuǎn)換越來越受關注。利用熱電發(fā)電機(TEG)收集熱機余熱(如汽車或傳統(tǒng)發(fā)電廠)的可能性,并將其轉(zhuǎn)換成電能進一步推進,以提高其轉(zhuǎn)換效率。同時尤為突出,通過帕爾貼進行冷卻的應用也越來越受關注情況較常見,例如激光器中的恒溫溫度臨界元件市場開拓、優(yōu)異熱電材料標準。通常根據(jù)無量綱優(yōu)值ZT來衡量材料的熱電轉(zhuǎn)換效率戰略布局,由熱導率、塞貝克系數(shù)和導電率計算得出規則製定。

由此講道理,華測儀器研發(fā)了一系列簡單易用和優(yōu)異的材料表征儀器。華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在RT至1500溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率表現明顯更佳。

熱功率更加廣闊、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應熱電電壓的大小技術先進,單位是V/K示範。

近年來直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發(fā)動機和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元提高。

為了應對一系列挑戰(zhàn)性的應用發展基礎,華測儀器已經(jīng)開發(fā)出HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)/電阻率測試系統(tǒng)用于分析材料和器件的特性。


特點

• 文本編輯

• 重復測量可少的輸入?yún)?shù)

• 實時測量分析

• 測量曲線比較:多達32條曲線

• 曲線扣除

• 曲線放大縮小

• 一階/二階求導

• 多重峰分析

• 樣品溫度多點校正

• 多種方法分析(DSC TG 有很大提升空間、TMA要求、DIL等)

• 焓變多點校正

• 熱流Cp測量

• 評估結果保存及導出

• ASCII數(shù)據(jù)導入與導出

• 數(shù)據(jù)生成到MS Excel

• 信號控制測量測序

 

產(chǎn)品優(yōu)勢

寬溫區(qū)覆蓋與高適應性

l 支持 RT 至 1500℃ 超寬溫度范圍,兼容低溫至超高溫測試認為,滿足熱電材料運行好、高溫合金等多種材料研究需求;

l 提供惰性紮實、氧化同期、還原、真空多氣氛環(huán)境可能性更大,適配材料在不同反應條件下的性能評估共同努力。

高精度與多功能集成

l 貝克系數(shù)測量范圍 1~2500μV/K ,準確度達 ±7% 真正做到,重復性 ±3% 發展邏輯,精準捕捉微弱熱電效應;

l 電導率測量范圍覆蓋 0.01~2×105 S/cm 追求卓越,準確度 ±5~8% 發展機遇,支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析;

l 采用靜態(tài)直流法(貝克系數(shù))與四端法(電阻率)性能,確保測量結果穩(wěn)定可靠。

靈活兼容性與操作便捷性

l 支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸支撐能力,適配復雜形狀試樣產品和服務;

l 可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結構,保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測量誤差不斷創新;

l 電極材料可選鎳(-100~500℃)或鉑(-100~1500℃)高效利用,靈活應對不同溫區(qū)與材料特性。

高穩(wěn)定性與長周期測試能力

l 電源輸出 0~1A 去突破,具備長期穩(wěn)定性品質,支持連續(xù)高溫實驗與長時間數(shù)據(jù)采集;

l 配備K/S/C型熱電偶,實現(xiàn)精準溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制能運用。


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