靜電放電發(fā)生器的產品簡介

 靜電放電（即ESD）是大家熟知的電磁兼容問題，它可引起電子設備失靈或使其損壞解決問題。對靜電放電敏感的元件被稱為靜電放電敏感元件（ESDS）系列。

　　如果一個元件的兩個針腳或多針腳之間的電壓超過元件介質的擊穿強度，就會對元件造成損壞相互配合。這是MOS器件出現故障zui主要的原因慢體驗。氧化層越薄，則元件對靜電放電的敏感性也越大智能化。故障通常表現為元件本身對電源有一定阻值的短路現象重要組成部分。對于雙極性元件，損壞一般發(fā)生在薄氧化層隔開的已進行金屬噴鍍的有源半導體區(qū)域合作，因此會產生泄漏嚴重的路徑勃勃生機。

　　另一種故障是由于節(jié)點的溫度超過半導體硅的熔點（1415℃）時所引起的。靜電放電脈沖的能量可以產生局部地方發(fā)熱極致用戶體驗，因此出現這種機理的故障提供有力支撐。即使電壓低于介質的擊穿電壓，也會發(fā)生這種故障建議。一個典型的例子是技術交流，NPN型三極管發(fā)射極與基極間的擊穿會使電流增益急劇降低。

　　器件受到靜電放電的影響后拓展，也可能不立即出現功能性的損壞創造更多。這些受到潛在損壞的元件通常被稱為“跛腳”，一旦加以使用不斷進步，將會對以后發(fā)生的靜電放電或傳導性瞬態(tài)表現出大的敏感性工藝技術。

　　人體有感覺的靜電放電電壓在3000 — 5000V之間，然而規模，元件發(fā)生損壞時的電壓僅幾百伏近年來。

　　由于新技術的發(fā)展導致元件對靜電放電的損壞越來越敏感。靜電放電造成的損失每年可達到幾百萬美元以上發展目標奮鬥。因此技術先進，許多大型的元件和設備制造廠引進專業(yè)技術以減小生產環(huán)境中的靜電積累更多的合作機會，以提高產品合格率和可靠性。

    靜電放電發(fā)生器就是基于此而設計產生的認為。