北京華測(cè)高溫四探針電阻率

●采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的的高溫測(cè)試系統(tǒng)推進高水平，滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求，通以在高溫 拓展應用、真空生產創效、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度管理、 時(shí)間變化的曲 線． 目前主要針對(duì)圓片優化上下、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試模樣，可以廣泛用于碳系導(dǎo)電材料不斷創新、 金屬系導(dǎo)電材料、 金屬氧化物系導(dǎo)電材料提供了遵循、結(jié) 構(gòu)型高分子導(dǎo)電材料、復(fù)合導(dǎo)電材料等材料的電阻率測(cè)量大型。 過(guò)測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻服務效率，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲 線重要意義。