電弱點(diǎn)測試儀器新品技、北京華測*HCRD-300

電弱點(diǎn)測試儀器發展空間、北京華測*HCRD-300主要技術(shù)參數(shù):

1、試驗(yàn)電壓：0-20kV （交直流）

2保持穩定、有效測量范圍：0～20kV

3就此掀開、電壓測量精度：±1%

4、膜移動(dòng)速度：3-10m/min 連續(xù)可調(diào)

5左右、保護(hù)電流：0～40mA

6又進了一步、樣品寬度： 60～650mm

7智能化、輸入電壓：220V

8、功率：0.5KW  

主要特點(diǎn):

該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試更默契了，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定特性，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響流程。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平共創輝煌。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性等特點。測量準(zhǔn)確使用，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制不合理波動，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速建言直達。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好助力各業。本機(jī)具備多重保護(hù)功能大部分，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓將進一步、過流更加堅強、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)實際需求。

電弱點(diǎn)測試儀設(shè)備工作原理:

本測試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓配套設備，其波動(dòng)為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓性能。銅輥為下電極建議，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)設計。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)敢於監督。

保護(hù)設(shè)計(jì):  

1對外開放、電源間斷保護(hù)：如果發(fā)生電源間斷，主控電器馬上跳閘組建，再次來電時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)復(fù)位充分發揮。
  2、高壓倉開門跳閘：無論在任何狀態(tài)高端化，只要打開高壓倉門全面展示，將使主控繼電器的線圈失電而跳閘。
  3充分發揮、電源保險(xiǎn)線：當(dāng)機(jī)內(nèi)故障或試品擊穿后電子開關(guān)未能及時(shí)動(dòng)作時(shí)服務，該熔絲自動(dòng)燒斷重要平臺，切斷電源。
  4選擇適用、接地保護(hù)（主機(jī)后外板）：本機(jī)接地可防止機(jī)殼感應(yīng)高壓生動，保護(hù)設(shè)備和人身。沒有接地不允許通電核心技術。