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華測儀器-四探針測試儀

簡要描述:HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的有很大提升空間,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器要求。儀器由主機、測試臺認為、四探針探頭運行好、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示紮實,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析同期,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果可能性更大。

  • 產(chǎn)品型號:HCTZ-2S
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2023-09-19
  • 訪  問  量:1984

詳細介紹

品牌HUACE/北京華測價格區(qū)間1萬-3萬
自動化度全自動應用領域環(huán)保,能源,電子/電池

產(chǎn)品名稱:北京華測試驗儀器四探針測試儀

產(chǎn)品型號:HCTZ-2S

品牌:北京華測

一使命責任、產(chǎn)品介紹

HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備共謀發展。于測試半導體材料電阻率方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機追求卓越、測試臺發展機遇、四探針探頭、計算機等部分組成性能,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格強化意識,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果聽得進。

HCTZ-2S雙電測數(shù)字式四探針試驗儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針合理需求、電壓探針的變換全技術方案,采用兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸重要的、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響充分發揮,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高了精確度,也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途能運用。

四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析參與水平。

測試程序控制四探針試驗儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)講理論,把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格智能設備,圖形直觀地記錄解決問題、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看不要畏懼,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中導向作用,讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。

二規定、四探針測試探頭

1可持續、使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸承,量具精度的硬質(zhì)合金探針示範推廣,在寶石導孔內(nèi)運動情況,持久耐磨,測量精度高大大縮短、重復性好堅持好。

A.探頭間距1.00

B.探針機械游率:±0.3%

C.探針直徑0.5

D.探針材料:碳化鎢,常溫不生銹

E探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆高質量。

2構建、手動測試架

手動測試架探頭上下由手動操作,可以用作斷面單晶棒和硅片測試大幅增加,探針頭可上下移動距離:120mm平臺建設,測試臺面200x200(mm)

三服務延伸、產(chǎn)品應用

HCTZ-2S四探針試驗儀采用四探針雙電測量方法先進技術,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校貢獻力量、科研部門合作,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具前景。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示流動性,無需人工計算,并帶有溫度補償功能生產效率。采用精度高的AD芯片控制反應能力,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理行業內卷、質(zhì)量輕便進行培訓,配備10英寸觸摸屏科普活動,軟件可保存和打印數(shù)據(jù)凝聚力量,自動生成報表;本儀器可顯示電阻逐漸完善、電阻率、方阻、溫度了解情況、單位換算參與能力、溫度系數(shù)、電流長期間、電壓新的力量、探針形狀、探針間距是目前主流、厚度分享、電導率,配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求便利性。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購開展研究。

四、產(chǎn)品特點
    1.TVS瞬間抑制防護技術: 光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗擾處理,對于閃絡放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用信息化。
    2.本儀器的特點是主機配置三個數(shù)字表力量,在測量電阻率的同時,一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全程的電流變化,及時掌控測量電流方式之一,一塊顯示23探針間的測量電壓深刻認識,另一塊是顯示當前1首要任務、4探針測量使用的電壓,可以適當調(diào)整測量電壓避免材料耐壓不夠而電壓擊穿被測材料非常激烈。

3.主機還提供精度為0.05%的恒流源提升行動,使測量電流高度穩(wěn)定。本機配有恒流源開關喜愛,在測量某些薄層材料時環境,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生主要抓手,好地保護薄膜。采用低通濾波電流檢測技術以保證采集電流的有效值 重要的角色,以及電流抗擾的屏蔽空間載體。
    4.探針采用碳化鎢硬質(zhì)合金,硬度高要落實好、常溫不生銹即將展開,探針游移率在0.10.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度相對簡便。本機如加配測量軟件創新科技,測量硅片時可自動進行厚度、直徑特性、探針間距的修正服務機製,并計算、打印出硅片電阻率共創輝煌、徑向電阻率的大百分變化培訓、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度使用,給測量帶來很大方便。

5.HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能建言直達,可進行電壓大幅拓展、電流。

6.儀器通過USB轉(zhuǎn)RS232連接線與電腦連接精準調控,軟件可對四探針電阻率測量數(shù)據(jù)進行處理并修正測量數(shù)據(jù)效高,特定數(shù)據(jù)存儲格式,顯示變化曲線優化程度,兼容性:適用于通用電腦

7.測試系統(tǒng)的軟件平臺hcpro廣度和深度,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導體基礎、半導體材料的各項測試需求日漸深入,具備穩(wěn)定性和an全性,并具備斷電資料的保存功能引領作用,圖像資料可保存恢復強化意識,支持的標準。兼容XP深入、win7合理需求、win10系統(tǒng)。

五基本情況、軟件功能

具有試驗電壓設置功能先進水平;

可選擇試驗標準

可選擇是否自定義或自動試驗

截止條件:時間/電壓/電流;

語音提示:可選擇是否語音提示功能重要的。

統(tǒng)計報告:可自定報表格式

可生出PDFCSV共享、XLS文件格式

分析功能:可對測試的數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計高端化。大/小值、平均值等姿勢。


六充分發揮、技術參數(shù)

測量范圍

 阻:1×10-4~2×105Ω,     分辨率:1×10-5~1×102Ω

電阻率:1×10-4~2×105Ω-cm重要平臺,  分辨率:1×10-5~2×102Ω-cm

 阻:5×10-4~2×105Ω/□相互融合,  分辨率:5×10-5~1×102Ω/

數(shù)字電壓表

量程:20.00mV~2000mV

誤差:±0.1%讀數(shù)±2

數(shù)控恒流源

量程:0.1μA1μA全面闡釋,10μA用上了,100μA1mA適應性強,10mA100mA,1A

誤差:±0.1%讀數(shù)±2

四探針探頭

碳化鎢探針:Ф0.5mm競爭力所在,直流探針間距1.0mm能力建設,探針壓力:0~2kg可調(diào)

薄膜方阻探針:Ф0.7mm,直流或方形探針間距2.0mm先進的解決方案,探針壓力:0~0.6kg可調(diào)


七基礎、注意事項

1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書研究進展,規(guī)范操作

2要素配置改革、輕拿輕放,避免儀器震動溝通機製,水平放置無障礙,垂直測量

3、儀器不使用時請切斷電源平臺建設,連接線無需經(jīng)常拔下重要組成部分,避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象

4、探針筆測試結(jié)束先進技術,套好護套傳承,避免人為斷針




華測儀器-四探針測試儀

華測儀器-四探針測試儀







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