

簡要描述:HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的作用,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器相互配合。儀器由主機(jī)、測試臺著力增加、四探針探頭智能化、計算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示深入,亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機(jī)中加以分析技術研究,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果開展研究。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 價格區(qū)間 | 1萬-3萬 |
|---|---|---|---|
| 自動化度 | 全自動 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池 |
產(chǎn)品名稱:北京華測試驗儀器四探針測試儀
產(chǎn)品型號:HCTZ-2S
品牌:北京華測

一拓展、產(chǎn)品介紹
HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器宣講活動。儀器由主機(jī)不斷進步、測試臺工藝技術、四探針探頭、計算機(jī)等部分組成規模,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示近年來,亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機(jī)中加以分析,然后以表格發展目標奮鬥,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果技術先進。
HCTZ-2S雙電測數(shù)字式四探針試驗儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針延伸、電壓探針的變換認為,采用兩次電測量,對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析新趨勢,自動消除樣品幾何尺寸反應能力、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比學習,大大提高了精確度結構重塑,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序應用優勢,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計分析先進水平。
測試程序控制四探針試驗儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機(jī)中加以分析全面展示,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄新技術、顯示出來共同學習。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中深入,讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析效高。
1基礎、使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸承性能,量具精度的硬質(zhì)合金探針,在寶石導(dǎo)孔內(nèi)運動對外開放,持久耐磨技術創新,測量精度高、重復(fù)性好資料。
A.探頭間距1.00㎜
B.探針機(jī)械游率:±0.3%
C.探針直徑0.5㎜
D.探針材料:碳化鎢廣泛應用,常溫不生銹
E探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。

手動測試架探頭上下由手動操作哪些領域,可以用作斷面單晶棒和硅片測試敢於挑戰,探針頭可上下移動距離:120mm,測試臺面200x200(mm)建立和完善。


三提供了遵循、產(chǎn)品應(yīng)用
HCTZ-2S四探針試驗儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)大型、高等院校服務效率、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫可持續、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具主要抓手。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示構建,無需人工計算創新科技,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用精度高的AD芯片控制共創輝煌,恒流輸出具有重要意義,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便高效,配備10英寸觸摸屏應用創新,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表機構;本儀器可顯示電阻的特性、電阻率、方阻基礎、溫度提供堅實支撐、單位換算、溫度系數(shù)高產、電流信息化技術、電壓、探針形狀良好、探針間距逐步顯現、厚度、電導(dǎo)率引領,配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求自動化裝置。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
四應用前景、產(chǎn)品特點
1.TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù): 光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗擾處理,對于閃絡(luò)放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用開展攻關合作。
2.本儀器的特點是主機(jī)配置三個數(shù)字表,在測量電阻率的同時,一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全程的電流變化的有效手段,及時掌控測量電流統籌推進,一塊顯示2、3探針間的測量電壓關鍵技術,另一塊是顯示當(dāng)前1了解情況、4探針測量使用的電壓,可以適當(dāng)調(diào)整測量電壓避免材料耐壓不夠而電壓擊穿被測材料技術研究。
3.主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源重要的,使測量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)姿勢,在測量某些薄層材料時相互融合,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生,好地保護(hù)薄膜綠色化。采用低通濾波電流檢測技術(shù)以保證采集電流的有效值 不同需求,以及電流抗擾的屏蔽。
4.探針采用碳化鎢硬質(zhì)合金建設應用,硬度高支撐作用、常溫不生銹,探針游移率在0.1~0.2%動力。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度同時。本機(jī)如加配測量軟件,測量硅片時可自動進(jìn)行厚度效高性、直徑模式、探針間距的修正,并計算提升、打印出硅片電阻率高品質、徑向電阻率的大百分變化、平均百分變化的特點、徑向電阻率不均勻度,給測量帶來很大方便有效保障。
5.HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件大數據,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓講實踐、電流數字技術。
6.儀器通過USB轉(zhuǎn)RS232連接線與電腦連接,軟件可對四探針電阻率測量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并修正測量數(shù)據(jù)市場開拓,特定數(shù)據(jù)存儲格式措施,顯示變化曲線,兼容性:適用于通用電腦
7.測試系統(tǒng)的軟件平臺hcpro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)緊密相關,符合導(dǎo)體更默契了、半導(dǎo)體材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性和an全性培訓,并具備斷電資料的保存功能不合理波動,圖像資料可保存恢復(fù),支持的標(biāo)準(zhǔn)重要工具。兼容XP積極拓展新的領域、win7、win10系統(tǒng)更優質。
具有試驗電壓設(shè)置功能;
可選擇試驗標(biāo)準(zhǔn)
可選擇是否自定義或自動試驗
截止條件:時間/電壓/電流;
語音提示:可選擇是否語音提示功能領域。
統(tǒng)計報告:可自定報表格式
可生出PDF溝通機製、CSV、XLS文件格式
分析功能:可對測試的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計帶來全新智能。大/小值實現了超越、平均值等。
六去完善、技術(shù)參數(shù)
測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105Ω橋梁作用, 分辨率:1×10-5~1×102Ω
電阻率:1×10-4~2×105Ω-cm, 分辨率:1×10-5~2×102Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105Ω/□求索, 分辨率:5×10-5~1×102Ω/□
數(shù)字電壓表
量程:20.00mV~2000mV
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
數(shù)控恒流源
量程:0.1μA讓人糾結,1μA,10μA穩定發展,100μA基石之一,1mA,10mA增持能力,100mA,1A
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
四探針探頭
碳化鎢探針:Ф0.5mm共同努力,直流探針間距1.0mm,探針壓力:0~2kg可調(diào)
薄膜方阻探針:Ф0.7mm追求卓越,直流或方形探針間距2.0mm逐漸完善,探針壓力:0~0.6kg可調(diào)
七、注意事項
1合理需求、儀器操作前請您仔細(xì)閱讀使用說明書是目前主流,規(guī)范操作
2、輕拿輕放高質量,避免儀器震動充分發揮,水平放置選擇適用,垂直測量
3、儀器不使用時請切斷電源設計,連接線無需經(jīng)常拔下業務指導,避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象
4、探針筆測試結(jié)束提供堅實支撐,套好護(hù)套還不大,避免人為斷針
華測儀器-四探針測試儀
華測儀器-四探針測試儀
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