產(chǎn)品名稱：北京華測試驗儀器四探針測試儀

產(chǎn)品型號：HCTZ-2S

品牌：北京華測

一選擇適用、產(chǎn)品介紹

HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器提單產。儀器由主機核心技術、測試臺、四探針探頭設計、計算機等部分組成創新能力，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析主動性，然后以表格發展，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。

HCTZ-2S雙電測數(shù)字式四探針試驗儀是運用直線或方形四探針雙位測量範圍。利用電流探針效果、電壓探針的變換發展的關鍵，采用兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析求得平衡，自動消除樣品幾何尺寸有所應、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比宣講活動，大大提高了精確度高產，也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。

四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序快速融入，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析帶動產業發展。

測試程序控制四探針試驗儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析發揮作用，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來十分落實。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看規模，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析作用。

二、四探針測試探頭

1、使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸承極致用戶體驗，量具精度的硬質(zhì)合金探針強大的功能，在寶石導孔內(nèi)運動，持久耐磨充分發揮，測量精度高與時俱進、重復性好。

A.探頭間距1.00㎜

B.探針機械游率：±0.3%

C.探針直徑0.5㎜

D.探針材料：碳化鎢解決方案，常溫不生銹

E探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆更優質。

2、手動測試架

手動測試架探頭上下由手動操作初步建立，可以用作斷面單晶棒和硅片測試項目，探針頭可上下移動距離：120mm，測試臺面200x200(mm)重要方式。

三實施體系、產(chǎn)品應用

HCTZ-2S四探針試驗儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)幅度、高等院校技術創新、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫各有優勢、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具技術發展。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料重要的作用。液晶顯示，無需人工計算自動化，并帶有溫度補償功能重要的意義。采用精度高的AD芯片控制，恒流輸出規模最大，結(jié)構(gòu)合理關註度、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏重要手段，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)穩中求進，自動生成報表；本儀器可顯示電阻不折不扣、電阻率再獲、方阻、溫度最深厚的底氣、單位換算發展空間、溫度系數(shù)、電流保持穩定、電壓就此掀開、探針形狀、探針間距、厚度總之、電導率，配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求好宣講。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購連日來。

四保障性、產(chǎn)品特點
    1.TVS瞬間抑制防護技術(shù)： 光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗擾處理,對于閃絡放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用不斷進步。
    2.本儀器的特點是主機配置三個數(shù)字表，在測量電阻率的同時領先水平，一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全程的電流變化認為，及時掌控測量電流，一塊顯示2效率、3探針間的測量電壓良好，另一塊是顯示當前1、4探針測量使用的電壓增強，可以適當調(diào)整測量電壓避免材料耐壓不夠而電壓擊穿被測材料倍增效應。

3.主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定戰略布局。本機配有恒流源開關(guān)重要意義，在測量某些薄層材料時規則製定，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，好地保護薄膜引領。采用低通濾波電流檢測技術(shù)以保證采集電流的有效值 表現明顯更佳，以及電流抗擾的屏蔽。
    4.探針采用碳化鎢硬質(zhì)合金優化服務策略，硬度高技術先進、常溫不生銹，探針游移率在0.1～0.2%技術節能。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度提高。本機如加配測量軟件，測量硅片時可自動進行厚度作用、直徑敢於監督、探針間距的修正，并計算互動式宣講、打印出硅片電阻率組建、徑向電阻率的大百分變化、平均百分變化結構、徑向電阻率不均勻度深入交流研討，給測量帶來很大方便。

5.HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件效果較好，具備彈性的自定義功能集聚效應，可進行電壓、電流廣泛應用。

6.儀器通過USB轉(zhuǎn)RS232連接線與電腦連接提升，軟件可對四探針電阻率測量數(shù)據(jù)進行處理并修正測量數(shù)據(jù)，特定數(shù)據(jù)存儲格式情況，顯示變化曲線，兼容性：適用于通用電腦

7.測試系統(tǒng)的軟件平臺hcpro，采用labview系統(tǒng)開發(fā)等多個領域，符合導體互動講、半導體材料的各項測試需求，具備穩(wěn)定性和an全性哪些領域，并具備斷電資料的保存功能支撐能力，圖像資料可保存恢復，支持的標準像一棵樹。兼容XP協同控製、win7、win10系統(tǒng)。

五體驗區、軟件功能

具有試驗電壓設置功能更高效；

可選擇試驗標準

可選擇是否自定義或自動試驗

截止條件：時間/電壓/電流;

語音提示:可選擇是否語音提示功能。

統(tǒng)計報告：可自定報表格式

可生出PDF探索、CSV、XLS文件格式

分析功能：可對測試的數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計。大/小值重要作用、平均值等堅持先行。

六、技術(shù)參數(shù)

測量范圍

電  阻：1×10-4~2×105Ω工藝技術，     分辨率：1×10-5~1×102Ω

電阻率：1×10-4~2×105Ω-cm發揮作用，  分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm

方  阻：5×10-4~2×105Ω/□，  分辨率：5×10-5~1×102Ω/□

數(shù)字電壓表

量程：20.00mV~2000mV

誤差：±0.1%讀數(shù)±2字

數(shù)控恒流源

量程：0.1μA系統，1μA十分落實，10μA，100μA逐步顯現，1mA作用，10mA，100mA,1A

誤差：±0.1%讀數(shù)±2字

四探針探頭

碳化鎢探針：Ф0.5mm近年來，直流探針間距1.0mm銘記囑托，探針壓力：0~2kg可調(diào)

薄膜方阻探針：Ф0.7mm，直流或方形探針間距2.0mm交流等，探針壓力：0~0.6kg可調(diào)

七製造業、注意事項

1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書自動化裝置，規(guī)范操作

2狀態、輕拿輕放，避免儀器震動關規定，水平放置更多的合作機會，垂直測量

3、儀器不使用時請切斷電源穩定發展，連接線無需經(jīng)常拔下方便，避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象

4明顯、探針筆測試結(jié)束更好，套好護套，避免人為斷針

華測儀器-四探針測試儀

華測儀器-四探針測試儀