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  • HCLD-III絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀
    HCLD-III絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A增強、ASTMD3638-92倍增效應、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電氣絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀
    HCLD-III電氣絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    電氣絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》戰略布局,UL746A重要意義、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目講故事。
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  • HCLD-III控制精密高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器
    HCLD-III控制精密高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    控制精密高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》單產提升,UL746A、ASTMD3638-92置之不顧、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目多樣性。
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  • HCLD-III操作簡單高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器
    HCLD-III操作簡單高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    操作簡單高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A試驗、ASTMD3638-92規模、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器
    HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》新格局,UL 746A作用、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III海淀區(qū)華測高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器
    HCLD-III海淀區(qū)華測高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    海淀區(qū)華測高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》互動式宣講,UL 746A組建、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目結構。
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  • HCLD-III北京市華測試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置
    HCLD-III北京市華測試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    北京市華測試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》深入交流研討,UL 746A、ASTM D 3638-92效果較好、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目集聚效應。
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  • HCLD-III電氣連接件高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器
    HCLD-III電氣連接件高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

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    電氣連接件高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A廣泛應用、ASTMD3638-92提升、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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