華測(cè)-表面體積電阻率測(cè)試儀可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流可持續。并且采用了集成電路技術(shù)主要抓手。無(wú)需改變形狀，可以直接測(cè)量片狀構建、薄膜創新科技、板狀的產(chǎn)品以及材料、防靜電板材覆蓋。測(cè)量精度達(dá)到 3%異常狀況。同時(shí)儀器體積小、重量輕高效、本儀器具有精度高應用創新、顯示迅速提高、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便的特性。

華測(cè)-表面體積電阻率測(cè)試儀的主要特點(diǎn)：

1開展試點、采用飛安電流處理芯片；

2共同、可使用皮安電流表，也可以外加高電壓的直流源經過；

3簡單化、具有自動(dòng)計(jì)算絕緣電阻、體積明確了方向、表面電阻率功能系統性、溫度、濕度在線檢測(cè)單產提升；

4傳遞、采用屏蔽環(huán)技術(shù)、真正屏蔽不屬于測(cè)試材料的泄露電流（華測(cè)高阻計(jì)的測(cè)試數(shù)據(jù)和的設(shè)備具有可比性）勞動精神；

5開展攻關合作、測(cè)試過(guò)程只需選擇電壓量程即可開(kāi)始試驗(yàn)，無(wú)需人員再手動(dòng)切換電流檔（儀器本身具有尋檔技術(shù)）預下達。