鐵電參數(shù)測試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試不斷創新；

PUND 脈沖測試；

Fatigue 疲勞測試提供了遵循；

Retention保持力參與水平；

Imprint印跡；

Leakage current漏電流測試滿意度；

Thermo Measurement 變溫測試功能情況較常見。

壓電參數(shù)測試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測試，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量主要抓手。

熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測試體製。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)創新科技、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時間的曲線服務延伸。

薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；

塊體材料變溫范圍：室溫到200℃具有重要意義、室溫到600℃進一步、室溫到800℃

介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z應用創新、電抗X提高、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G的特性、電納B交流、電感L基礎、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量還不大，同時還可以分析被測樣品隨溫度高產、頻率、時間發揮作用、偏壓變化的曲線良好。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試。

熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

  用于研究材功材料的一些關(guān)鍵因素銘記囑托，諸如分子弛豫引領、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等示範，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間勞動精神、活化能等相關(guān)的介電特性。

絕緣電阻測試功能

高精zhun度的電壓輸出與電流測量製度保障，保障測試的，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測的有效手段。例如：陶瓷材料統籌推進、硅橡膠測試、PCB關鍵技術、云母了解情況、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的測試技術研究。

高溫四探針測試功能

符合功能材料導(dǎo)體重要的、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量姿勢。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)相互融合。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體綠色化，陶瓷材料不同需求，金屬材料等多種材料的多種熱電分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件建設應用，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃支撐作用，高阻選件高至10MΩ。

電卡效應(yīng)測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡動力。

溫度范圍：-50℃到200℃同時、熱流時間范圍：1s-1000s，大電壓可達(dá)10kV效高性，

波形：用戶自定模式、脈沖自動化、三角波、正弦波通過活化、任意波形落地生根、預(yù)定義波形。

用戶可根據(jù)不同的需要健康發展，選擇不同的配置有效保障。