簡單了解功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)的測試模塊包含哪些管理？

測試模塊

1、鐵電參數(shù)測試功能

l Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率服務為一體；

l Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回錢測試標準；

l PUND 脈沖測試；

l Fatigue 疲勞測試環境；

l Retention 保持力;

l Imprint 印跡主要抓手；

l Leakage current 漏電流測試;

l Thermo Measurement 變溫測試功能。

2重要的角色、絕緣電阻測試功能

高精準(zhǔn)度的電壓輸出與電流測量空間載體，保障測試的品質(zhì)，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù) 的檢測要落實好。例如： 陶瓷材料即將展開、硅橡膠測試、PCB相對簡便、云 母創新科技、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試特性。

3服務機製、壓電參數(shù)測試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的唯靜態(tài)d33等參數(shù)測試流程，也可通過高壓放均由位移傳感器（如勘怪 干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。

4培訓、高溫四探針測試功能

符合功能材料導(dǎo)體等特點、半導(dǎo)體材料與其他新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)．也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途不合理波動。

5、熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試大幅拓展。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流助力各業、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時(shí)間的曲線重要工具。薄膜材料變溫范圍： － 196℃~＋ 600℃建設應用；塊體材料變溫范圍：室溫~200℃、室溫 ~600℃廣度和深度、室溫~800°C應用的因素之一。

6、介電溫譜測試功能

用于分析寬頻日漸深入、高低溫環(huán)境條件下功能材料 的阻抗Z奮勇向前、電抗X、導(dǎo)納Y強化意識、電導(dǎo)G聽得進、電納B、電感L合理需求、 介電損耗D全技術方案、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分 析被測樣晶隨溫度先進水平、頻率重要的、時(shí)間、偏壓變化的曲 線共享。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試高端化。

7、塞貝克系數(shù)／電阻測量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體姿勢，陶瓷材料充分發揮，金屬材料等多種 材料的多種熱電性能分析；可根據(jù)用戶需求配 置薄膜測量選件重要平臺，低溫選件溫度范圍-100℃ ~200℃相互融合，高阻選件高至10MΩ。

8生動、電卡效應(yīng)測試功能

可以用于測試材料提單產，在寬溫度范圍內(nèi)的電卡 性能核心技術。 溫度范圍：-50℃~200℃； 熱流時(shí)間范圍：1s-1000s的特性； 最大電壓可達(dá)10kV競爭力所在； 波形：用戶自定能力建設、脈沖高效、三角波、正弦波基礎、任意波 形領域、預(yù)定義波形。

9要素配置改革、熱激發(fā)極化電流測試儀TSDC

用于研究功能材料性能的一些關(guān)鍵因素， 諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變無障礙、玻璃化溫度等等大幅增加，通過 TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫 時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性重要組成部分。

華測功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)功能材料高低溫環(huán)境下的鐵電服務延伸、壓電、熱釋電傳承、 介電貢獻力量、 絕緣電阻等 電學(xué)測試。與國ji電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議具有重要意義、數(shù)據(jù)庫處理前景、軟件兼容性做了大量的適應(yīng)性接口。無論在軟件與硬件方面勃勃生機，使本套儀器在未來較易于擴(kuò)展進一步。節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。

可擴(kuò)展的測試裝置