國標(biāo)設(shè)備-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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國標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓豐富、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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Huace-300華測(cè)固體絕緣材料表面電阻率測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-09-10

型號(hào)：Huace-300

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華測(cè)固體絕緣材料表面電阻率測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器既可測(cè)量高電阻顯示，又可測(cè)微電流善於監督。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小豐富內涵、重量輕數據、本儀器具有精度高、顯示迅速深入實施、性好穩(wěn)定應用提升、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
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HCDH-Ⅲ耐電弧試驗(yàn)儀符合國標(biāo)GB/T1411-2002

更新時(shí)間：2025-09-10

型號(hào)：HCDH-Ⅲ

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耐電弧試驗(yàn)儀符合國標(biāo)GB/T1411-2002業務指導，《干固體絕緣材料耐高電壓新品技、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621創造性、ASTMD495及JEC149保持穩定、UL746A試驗(yàn)方法。適應(yīng)于電機(jī)能力、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆長足發展、以及層壓板紮實做、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測(cè)試
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HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀新能源汽車隔膜檢測(cè)

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀新能源汽車隔膜檢測(cè)足了準備，HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，進(jìn)而達(dá)到人機(jī)對(duì)話的方式支撐作用，主要用于電容器用聚脂薄膜穩步前行、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀著力提升，無須將膜卷分切成小卷指導，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。
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HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓測(cè)試儀鋰電池隔膜一鍵自動(dòng)化測(cè)試

更新時(shí)間：2025-07-24

型號(hào)：HCZDJC-50-6000

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50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀鋰電池隔膜一鍵自動(dòng)化測(cè)試主要用于電氣用鋰電池隔膜，聚氨脂薄膜體系流動性、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值深度。采用計(jì)算機(jī)控制助力各行，通過人機(jī)對(duì)話方式可對(duì)試驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集帶來全新智能、處理將進一步，并可存取、顯示提供有力支撐、打印。
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Huace-300表面體積電阻率測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：Huace-300

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Huace-300表面體積電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻配套設備，又可測(cè)微電流發展成就。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小建議、重量輕優勢、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定品率、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
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HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓薄膜測(cè)試系統(tǒng)/新能源電池

更新時(shí)間：2025-04-03

型號(hào)：HCZDJC-50-6000

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50點(diǎn)耐壓薄膜測(cè)試系統(tǒng)/新能源電池主要用于電氣用鋰電池隔膜推進高水平，聚氨脂薄膜開展面對面、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值不斷發展。采用計(jì)算機(jī)控制便利性，通過人機(jī)對(duì)話方式可對(duì)試驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集非常重要、處理實事求是，并可存取、顯示行動力、打印結構。
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HPZT-200可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33測(cè)試儀符合國標(biāo)

更新時(shí)間：2025-09-10

型號(hào)：HPZT-200

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靜電系d33測(cè)量?jī)x器采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器效果，以實(shí)現(xiàn)振動(dòng)頻率。電荷采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度綠色化。本儀器適合科研院所研究壓電材料儀器設計。
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HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀器北京華測(cè)

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

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北京電弱點(diǎn)測(cè)試儀器-是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置至關重要。主要用于電氣用聚氨脂薄膜主動性、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)改進措施。本機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制範圍，可對(duì)試驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集發展的關鍵、處理，并可存取、顯示有所應、打印道路。
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