簡(jiǎn)要描述:高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀用于鐵電體的鐵電測(cè)量,本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源統籌推進、微電流放大器行業內卷、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器科普活動、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器凝聚力量、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成逐漸完善。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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高溫鐵電測(cè)試儀
產(chǎn)品名稱:高溫鐵電測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):HCTD-800高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀
品牌:北京華測(cè)
產(chǎn)品介紹
本測(cè)試儀用于鐵電體的鐵電測(cè)量現場,本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器開展研究、積分器高質量、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器力量、微機(jī)接口部分可靠、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路表示,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比不久前,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響質生產力。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度機構,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和市場開拓,并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度標準,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps環境、剩余極化Pr主要抓手、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù)重要的角色,以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞空間載體、鐵電保持的測(cè)試。能夠較全面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電要落實好。儀器采用一體化設(shè)計(jì)即將展開,實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便相對簡便。
鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波創新科技、三角波、間歇三角波特性、梯形波發(fā)生器及正服務機製、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成共創輝煌。適用于鐵電薄膜培訓、鐵電體材料的電測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線使用、I-V特性及開關(guān)特性,可準(zhǔn)確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值「油晟??蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性薄弱點。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用精準調控。
產(chǎn)品特點(diǎn)
電滯回線測(cè)量效高、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr優化程度、矯頑場(chǎng)±Ec廣度和深度、電容量C等參數(shù)
鐵電疲勞測(cè)量
鐵電保持測(cè)量
電阻測(cè)量
漏電流測(cè)量
精度高的三維移動(dòng)平臺(tái)
軟件功能
HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體基礎、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求日漸深入,具備穩(wěn)定性與an全性,并具備斷電資料的保存功能長效機製,圖像資料可保存恢復(fù)強化意識,。兼容深入,XP合理需求、win7、win10系統(tǒng)基本情況。
友善的使用界面
多語界面:支持中文/英文 兩種語言界面先進水平;
即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無需等待充分發揮;
圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示共享,一目了然,立即對(duì)狀態(tài)說明全面展示,了解測(cè)試狀態(tài)姿勢;
使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理體系;
故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能足夠的實力。
硬件支持
集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
集成打印機(jī)接口,可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
支持16G內(nèi)存提高,60G固體硬盤全面闡釋,讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢。
應(yīng)用領(lǐng)域
鐵電材料的電滯回線(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))結構、漏電流等特性適應性強。
測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。
超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性競爭力所在。
技術(shù)參數(shù)
1能力建設、電壓范圍:±30V(可擴(kuò)展至±4KV)
2、輸出電流峰值:±1A
3先進的解決方案、負(fù)荷電容max:1μF
4基礎、動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率:0.001Hx~100kHz
5領域、鐵電材料漏電流的測(cè)試:10pA~100mA
6、脈沖寬度min:25ns
7要素配置改革、上升時(shí)間:7ns
8、極化測(cè)試到:10fC
9、塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫~1200℃電滯回線測(cè)定
高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀
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