簡(jiǎn)要描述:HCTD高溫鐵電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀用于鐵電體的鐵電測(cè)量,記得牢。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源組建、微電流放大器、積分器服務體系、放大倍數(shù)可編程放大器進展情況、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分特點、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成研究。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,航空航天,綜合 |
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高溫鐵電測(cè)試儀-
產(chǎn)品名稱:高溫鐵電測(cè)試儀-
產(chǎn)品型號(hào):HCTD-800
品牌:北京華測(cè)
產(chǎn)品介紹
本測(cè)試儀用于鐵電體的鐵電測(cè)量可持續,。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器業務、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器完善好、微機(jī)接口部分促進進步、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路全過程,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比更高要求,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響優勢領先。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度經驗分享,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和新技術,并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度培養,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps趨勢、剩余極化Pr高效流通、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞有力扭轉、鐵電保持的測(cè)試。能夠較全面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電深入。儀器采用一體化設(shè)計(jì)形式,實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便一站式服務。
鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波功能、三角波、間歇三角波高質量、梯形波發(fā)生器及正應用情況、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線很重要、I-V特性及開關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測(cè)量保護好,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線能力和水平、I-V特性及開關(guān)特性,可準(zhǔn)確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值充足≡]入了新的力量?蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用說服力。
產(chǎn)品特點(diǎn)
電滯回線測(cè)量的積極性、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr深刻變革、矯頑場(chǎng)±Ec高效、電容量C等參數(shù)
鐵電疲勞測(cè)量
鐵電保持測(cè)量
電阻測(cè)量
漏電流測(cè)量
精度高的三維移動(dòng)平臺(tái)
軟件功能
HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體至關重要、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求質量,具備穩(wěn)定性與an全性,并具備斷電資料的保存功能表示,圖像資料可保存恢復(fù)不久前。兼容,XP質生產力、win7機構、win10系統(tǒng)。
友善的使用界面
多語界面:支持中文/英文 兩種語言界面提升行動;
即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽多種場景,無需等待;
圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示開展試點,一目了然集中展示,立即對(duì)狀態(tài)說明,了解測(cè)試狀態(tài)規劃;
使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限建設,方便管理;
故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能各項要求。
硬件支持
集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
集成打印機(jī)接口大面積,可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
支持16G內(nèi)存,60G固體硬盤優勢與挑戰,讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢集成應用。
應(yīng)用領(lǐng)域
鐵電材料的電滯回線(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流等特性問題分析。
測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)迎來新的篇章。
超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。
技術(shù)參數(shù)
1不負眾望、電壓范圍:±30V(可擴(kuò)展至±4KV)
2共同學習、輸出電流峰值:±1A
3、負(fù)荷電容max:1μF
4推動並實現、動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率:0.001Hx~100kHz
5、鐵電材料漏電流的測(cè)試:10pA~100mA
6順滑地配合、脈沖寬度min:25ns
7、上升時(shí)間:7ns
8薄弱點、極化測(cè)試精準(zhǔn)到:10fC
9上高質量、塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫~1200℃電滯回線測(cè)定
HCTD高溫鐵電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀
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