簡(jiǎn)要描述:鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度將進一步、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))更加堅強、強(qiáng)場(chǎng)介電、熱釋電系數(shù)實際需求、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊配套設備,也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試;配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)性能。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,航空航天,電氣 |
鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)
優(yōu)點(diǎn)
可測(cè)量壓電陶瓷居里溫度設計、靜態(tài)壓電常數(shù);
測(cè)量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試;
可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試
它可測(cè)量壓電陶瓷的因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)
可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試
本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)
HCTD-2000x
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度敢於監督、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))對外開放、強(qiáng)場(chǎng)介電、熱釋電系數(shù)組建、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊用的舒心,也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試;配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)深入交流研討。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜模式、厚膜、塊體材料和電子陶瓷集聚效應、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究貢獻。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。
設(shè)備內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)提升、測(cè)試版路持續、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,包括工控計(jì)算機(jī)主板高品質、CPU(i3 或以上)、RAM(4G 或以上)互動講、硬盤(120G 固態(tài)硬盤)統籌、網(wǎng)卡、USB 接口主動性、VGA 接口發展、預(yù)裝Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測(cè)試軟件等範圍。
鐵電模塊測(cè)試功能
鐵電模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能:
動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率(0.001Hz~150kHz)效果;
脈沖測(cè)試:min脈沖寬度2μs發展的關鍵,小上升時(shí)間1μs;
疲勞測(cè)試:max頻率300kHz溝通機製;
保持力測(cè)試無障礙;
靜態(tài)電滯回線測(cè)試體系;
印跡測(cè)試宣講活動;
漏電流測(cè)試:1pA to 1A。
高壓放大器模塊參數(shù)
高壓電源:DC~150kHz
輸出電壓: 1600Vp-p(±800Vp)(可選)
輸出電流:40mA
輸出波形:正弦波註入新的動力、三角波快速融入、梯形波等
壓電模塊測(cè)試功能
電容-電壓曲線、損耗曲線工藝技術;
壓電測(cè)試(蝴蝶曲線發揮作用、d33 曲線);
熱釋電測(cè)試系統;
e31十分落實、h31 測(cè)試;
靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試逐步顯現;
測(cè)量范圍(D33):2至4000pC/N
測(cè)試頻率:20HZ-10M;
測(cè)試精度:0.05%
測(cè)量參數(shù):Cp/Cs作用、Lp/Ls、Rp/Rs近年來、|Z|銘記囑托、|Y|、R交流等、X製造業、G、B自動化裝置、θ狀態、D、Q關規定、Vac更多的合作機會、Iac
施力裝置:約4公斤
電滯回線和蝴蝶曲線
典型的PZT樣品的d33曲線
薄膜探針臺(tái)
(室溫測(cè)試)(可用于薄膜和厚膜室溫鐵電測(cè)試)
薄膜變溫探針臺(tái)
(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電、壓電(d33)多種方式、熱釋電測(cè)試)
薄膜四探針探針臺(tái)
(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電同時、壓電(e31)、熱釋電測(cè)試)
薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)
(-196℃到+600℃)(可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試)
壓電常數(shù)測(cè)試原理
1臺上與臺下、5-加壓裝置絕緣座幅度;2、4-加壓裝置引出電極; 3-試樣; c-并聯(lián)電容器 F3 -試加試樣上的力; K- 短路開關(guān);6效高性、靜電計(jì)
熱釋電系數(shù)測(cè)試原理
1各有優勢、冰點(diǎn)技術發展;2、熱電偶資料;3自動化、屏蔽溫度室;4集成、試樣規模最大;5、絕緣保溫層;6重要手段、積分電容;7橫向協同、靜電計(jì)不折不扣;8、函數(shù)分析儀穩定性;9最深厚的底氣、加熱器;10資源優勢、絕緣支架應用擴展;11、絕緣油
高壓放大器
輸出形式:差分輸出
輸出帶寬:DC~150kHz
大輸出電壓:1600Vp-p(±800Vp)
大輸出電流:40mAp
大輸出功率:32W
選擇TREK高壓放大器
Trek 610E
電壓范圍±10kV
電流范圍0-2mA
大頻率600Hz
Trek 609E-6
電壓范圍±4kV
電流范圍0-20mA
max頻率6000Hz
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