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簡(jiǎn)要描述:鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度關註度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))橫向協同、強(qiáng)場(chǎng)介電、熱釋電系數(shù)敢於挑戰、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊不斷創新,也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試;配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)探索。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,航空航天,電氣 |
鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)
優(yōu)點(diǎn)
可測(cè)量壓電陶瓷居里溫度創新科技、靜態(tài)壓電常數(shù);
測(cè)量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試共創輝煌;
可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試
它可測(cè)量壓電陶瓷的因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)
可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試
本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)
HCTD-2000x
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度具有重要意義、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場(chǎng)介電大部分、熱釋電系數(shù)強大的功能、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊,也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試解決方案;配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)優勢。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜基礎、塊體材料和電子陶瓷提供堅實支撐、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。
設(shè)備內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)信息化技術、測(cè)試版路發揮作用、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等逐步顯現,包括工控計(jì)算機(jī)主板銘記囑托、CPU(i3 或以上)、RAM(4G 或以上)傳遞、硬盤(pán)(120G 固態(tài)硬盤(pán))試驗、網(wǎng)卡、USB 接口開展攻關合作、VGA 接口製度保障、預(yù)裝Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測(cè)試軟件等的有效手段。
鐵電模塊測(cè)試功能
鐵電模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能:
動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率(0.001Hz~150kHz)統籌推進;
脈沖測(cè)試:min脈沖寬度2μs,小上升時(shí)間1μs關鍵技術;
疲勞測(cè)試:max頻率300kHz了解情況;
保持力測(cè)試;
靜態(tài)電滯回線測(cè)試技術研究;
印跡測(cè)試重要的;
漏電流測(cè)試:1pA to 1A。
高壓放大器模塊參數(shù)
高壓電源:DC~150kHz
輸出電壓: 1600Vp-p(±800Vp)(可選)
輸出電流:40mA
輸出波形:正弦波姿勢、三角波相互融合、梯形波等
壓電模塊測(cè)試功能
電容-電壓曲線、損耗曲線綠色化;
壓電測(cè)試(蝴蝶曲線不同需求、d33 曲線);
熱釋電測(cè)試保持穩定;
e31總之、h31 測(cè)試;
靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試支撐作用;
測(cè)量范圍(D33):2至4000pC/N
測(cè)試頻率:20HZ-10M;
測(cè)試精度:0.05%
測(cè)量參數(shù):Cp/Cs研學體驗、Lp/Ls、Rp/Rs生產效率、|Z|產能提升、|Y|、R節點、X通過活化、G、B、θ健康發展、D有效保障、Q、Vac長效機製、Iac
施力裝置:約4公斤

電滯回線和蝴蝶曲線


典型的PZT樣品的d33曲線

薄膜探針臺(tái)
(室溫測(cè)試)(可用于薄膜和厚膜室溫鐵電測(cè)試)
薄膜變溫探針臺(tái)
(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電講實踐、壓電(d33)、熱釋電測(cè)試)
薄膜四探針探針臺(tái)
(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電奮戰不懈、壓電(e31)市場開拓、熱釋電測(cè)試)
薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)
(-196℃到+600℃)(可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試)
壓電常數(shù)測(cè)試原理

1、5-加壓裝置絕緣座大大縮短;2要落實好、4-加壓裝置引出電極; 3-試樣; c-并聯(lián)電容器 F3 -試加試樣上的力; K- 短路開(kāi)關(guān);6、靜電計(jì)
熱釋電系數(shù)測(cè)試原理

1更默契了、冰點(diǎn)先進技術;2、熱電偶不合理波動;3宣講手段、屏蔽溫度室;4積極拓展新的領域、試樣配套設備;5、絕緣保溫層相對開放;6對外開放、積分電容;7深入交流研討、靜電計(jì);8廣泛應用、函數(shù)分析儀關註度;9、加熱器去完善;10橋梁作用、絕緣支架;11求索、絕緣油
高壓放大器

輸出形式:差分輸出
輸出帶寬:DC~150kHz
大輸出電壓:1600Vp-p(±800Vp)
大輸出電流:40mAp
大輸出功率:32W
選擇TREK高壓放大器

Trek 610E
電壓范圍±10kV
電流范圍0-2mA
大頻率600Hz

Trek 609E-6
電壓范圍±4kV
電流范圍0-20mA
max頻率6000Hz
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