簡(jiǎn)要描述:Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能智能設備。采用特殊高壓開(kāi)關(guān),通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程服務效率,開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓不要畏懼,寄生電容小,動(dòng)作時(shí)間短。電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) Huace-DCS10KV
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀產(chǎn)品介紹:
Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能逐漸顯現。目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度十大行動,測(cè)試時(shí),樣品的電荷是放回到高壓源上著力增加,而不是釋放到負(fù)載上體系,通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度,無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能背景下。華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來(lái)測(cè)量多種場景,測(cè)試電路如下圖所示。在該電路中穩定,首先將介電膜充電到給定電壓機製性梗阻,之后通過(guò)閉合高速MOS高壓開(kāi)關(guān),存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載的原理設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)廣泛認同,更符合電介質(zhì)充放電原理進入當下。
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀主要參數(shù):
1、電流探頭帶寬:120MHz服務好;
2、峰值電流:0-100A流動性,150 A(多種電流可監(jiān)測(cè))效高化;
3、電流采集精度:1mA反應能力;
4部署安排、高壓源模塊:3KV,5KV投入力度, 10kV效果,15KV多可選(電流:0-5mA);
5技術、開(kāi)關(guān)適用:100萬(wàn)次改善,耐壓15kV;
6結構重塑、溫控范圍:0-200℃推廣開來;
7、溫度穩(wěn)定性和精度:0.1℃;
8密度增加、測(cè)試樣品:薄膜應用優勢,厚膜,陶瓷信息化,玻璃等發展需要;
9、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試全方位。
產(chǎn)品特點(diǎn) :
1開展研究、 本系統(tǒng)采用特殊高壓開(kāi)關(guān),通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程信息化,開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓力量,寄生電容小,動(dòng)作時(shí)間短深入各系統;
2大型、 電壓10kV,電流5mA進一步推進;
3不可缺少、 可外接高壓放大器或高壓直流電源;
4明確相關要求、 通過(guò)電流探頭檢測(cè)放電電流服務為一體,可達(dá)100A;
5特點、 可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過(guò)阻尼兩種測(cè)試模式相互配合,欠阻尼測(cè)試時(shí),放電回路短路品質,不使用電阻負(fù)載積極回應,過(guò)阻尼測(cè)試時(shí),使用較大的高精
度無(wú)感電阻作為放電負(fù)載深化涉外;
6全會精神、 可以作為一個(gè)信號(hào)源,產(chǎn)生任意波形又進了一步;
7智能化、 通過(guò)示波器采集數(shù)據(jù),并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度拓展基地;
8綜合措施、 定制載樣平臺(tái),可適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試流程;
9共創輝煌、 可以進(jìn)行變溫測(cè)試培訓,RT~200℃;
10使用、 可以進(jìn)行疲勞測(cè)試;
11、 還可用于極化材料之用建言直達。
儲(chǔ)能電介電放電行為
華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來(lái)測(cè)量大幅拓展。在該電路中,首先將介電膜充電到給定電壓大部分,之后通過(guò)閉合高速M(fèi)OS高壓開(kāi)關(guān)使命責任,存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載。在放電過(guò)程中電壓對(duì)樣品的時(shí)間依賴性可以通過(guò)檢波器進(jìn)行記錄搖籃。介電材料的儲(chǔ)能性能通常取決于放電速度持續創新,可通過(guò)改變負(fù)載電阻器的電阻來(lái)調(diào)節(jié)。通常測(cè)試系統(tǒng)中裝了具有不同電阻的電阻器使用。在測(cè)試過(guò)程中分析,用戶需要選擇電阻器或幾個(gè)電阻器的組合獲得得所需的電阻,并將電阻器或電阻的組合連接到測(cè)試的電介質(zhì)材料不難發現。在該電路中合規意識,選擇高壓MOSFET開(kāi)關(guān)以釋放儲(chǔ)存的能量非常重要。該開(kāi)關(guān)限制電路的最大放電速度和最大充電電壓推動。本套測(cè)試系統(tǒng)由放電采集電路協調機製、高壓放大器或高壓直流電源和控制計(jì)算機(jī)構(gòu)成。在測(cè)試中有效性,測(cè)試人員需要通過(guò)選擇合適的電阻來(lái)確定測(cè)量的放電速度高質量發展,測(cè)試樣品上的電壓可以由計(jì)算機(jī)自動(dòng)獲得。
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