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簡(jiǎn)要描述:Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能性能。采用特殊高壓開關(guān)初步建立,通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程,開關(guān)可以承受10kV高壓供給,寄生電容小的方法,動(dòng)作時(shí)間短。電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) Huace-DCS10KV
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀產(chǎn)品介紹:
Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能倍增效應。目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度規則製定,測(cè)試時(shí),樣品的電荷是放回到高壓源上優化服務策略,而不是釋放到負(fù)載上關規定,通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度,無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能兩個角度入手。華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來(lái)測(cè)量建強保護,測(cè)試電路如下圖所示。在該電路中生產效率,首先將介電膜充電到給定電壓使命責任,之后通過(guò)閉合高速MOS高壓開關(guān),存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載的原理設(shè)計(jì)開發(fā)創新延展,更符合電介質(zhì)充放電原理強化意識。
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)/功能材料測(cè)試儀主要參數(shù):
1、電流探頭帶寬:120MHz基本情況;
2、峰值電流:0-100A高端化,150 A(多種電流可監(jiān)測(cè))力量;
3、電流采集精度:1mA提單產;
4深入實施、高壓源模塊:3KV,5KV發展空間, 10kV效果,15KV多可選(電流:0-5mA);
5足了準備、開關(guān)適用:100萬(wàn)次合作關系,耐壓15kV;
6深刻內涵、溫控范圍:0-200℃傳遞;
7、溫度穩(wěn)定性和精度:0.1℃貢獻;
8規模最大、測(cè)試樣品:薄膜,厚膜統籌,陶瓷最深厚的底氣,玻璃等;
9振奮起來、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試品質。
產(chǎn)品特點(diǎn) :
1利用好、 本系統(tǒng)采用特殊高壓開關(guān),通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程最為顯著,開關(guān)可以承受10kV高壓尤為突出,寄生電容小,動(dòng)作時(shí)間短環境;
2空間載體、 電壓10kV,電流5mA相對簡便;
3重要組成部分、 可外接高壓放大器或高壓直流電源;
4合作、 通過(guò)電流探頭檢測(cè)放電電流勃勃生機,可達(dá)100A;
5極致用戶體驗、 可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過(guò)阻尼兩種測(cè)試模式提供有力支撐,欠阻尼測(cè)試時(shí),放電回路短路建議,不使用電阻負(fù)載品率,過(guò)阻尼測(cè)試時(shí),使用較大的高精
度無(wú)感電阻作為放電負(fù)載不斷發展;
6積極影響、 可以作為一個(gè)信號(hào)源,產(chǎn)生任意波形緊密協作;
7越來越重要、 通過(guò)示波器采集數(shù)據(jù),并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度規模;
8近年來、 定制載樣平臺(tái),可適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試非常完善;
9性能穩定、 可以進(jìn)行變溫測(cè)試,RT~200℃作用;
10情況正常、 可以進(jìn)行疲勞測(cè)試;
11技術特點、 還可用于極化材料之用提高鍛煉。
儲(chǔ)能電介電放電行為
華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來(lái)測(cè)量。在該電路中,首先將介電膜充電到給定電壓有所提升,之后通過(guò)閉合高速M(fèi)OS高壓開關(guān)聽得進,存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載。在放電過(guò)程中電壓對(duì)樣品的時(shí)間依賴性可以通過(guò)檢波器進(jìn)行記錄先進水平。介電材料的儲(chǔ)能性能通常取決于放電速度便利性,可通過(guò)改變負(fù)載電阻器的電阻來(lái)調(diào)節(jié)。通常測(cè)試系統(tǒng)中裝了具有不同電阻的電阻器重要平臺。在測(cè)試過(guò)程中深刻認識,用戶需要選擇電阻器或幾個(gè)電阻器的組合獲得得所需的電阻,并將電阻器或電阻的組合連接到測(cè)試的電介質(zhì)材料應用提升。在該電路中主動性,選擇高壓MOSFET開關(guān)以釋放儲(chǔ)存的能量非常重要。該開關(guān)限制電路的最大放電速度和最大充電電壓發展的關鍵。本套測(cè)試系統(tǒng)由放電采集電路道路、高壓放大器或高壓直流電源和控制計(jì)算機(jī)構(gòu)成。在測(cè)試中真諦所在,測(cè)試人員需要通過(guò)選擇合適的電阻來(lái)確定測(cè)量的放電速度指導,測(cè)試樣品上的電壓可以由計(jì)算機(jī)自動(dòng)獲得。
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