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電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:華測(cè) 電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能可靠保障。采用特殊高壓開關(guān),通過單刀雙擲控制充電和放電過程建設,開關(guān)可以承受10kV高壓共同,寄生電容小,動(dòng)作時(shí)間短。

  • 產(chǎn)品型號(hào):Huace-DCS10KV
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2025-01-14
  • 訪  問  量:1589

詳細(xì)介紹

品牌HUACE/北京華測(cè)



華測(cè)電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)


Huace-DCS10KV


電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹:

Huace-DCS10KV主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能在此基礎上。目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度,測(cè)試時(shí)探索創新,樣品的電荷是放回到高壓源上越來越重要的位置,而不是釋放到負(fù)載上,通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度迎來新的篇章,無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能解決方案。華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來測(cè)量,測(cè)試電路如下圖所示共同學習。在該電路中交流研討,首先將介電膜充電到給定電壓,之后通過閉合高速M(fèi)OS高壓開關(guān),存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載的原理設(shè)計(jì)開發(fā)結構重塑,更符合電介質(zhì)充放電原理。


主要參數(shù):

1空白區、電流探頭帶寬:120MHz貢獻法治;

2密度增加、峰值電流:0-100A150 A(多種電流可監(jiān)測(cè))相對較高;

3信息化、電流采集精度:1mA

4創新內容、高壓源模塊:3KV全方位,5KV10kV實踐者,15KV多可選(電流:0-5mA)管理;

5、開關(guān)適用:100萬次豐富,耐壓15kV;

6、溫控范圍:0-200℃善於監督;

7大局、溫度穩(wěn)定性和精度:0.1℃;

8數據、測(cè)試樣品:薄膜效率和安,厚膜,陶瓷邁出了重要的一步,玻璃等產能提升;

9、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試統籌發展。


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1品質、本系統(tǒng)采用特殊高壓開關(guān),通過單刀雙擲控制充電和放電過程慢體驗,開關(guān)可以承受10kV高壓深化涉外,寄生電容小,動(dòng)作時(shí)間短左右;

2又進了一步、電壓10kV,電流5mA生產製造;

3拓展基地、可外接高壓放大器或高壓直流電源;

4多元化服務體系、通過電流探頭檢測(cè)放電電流處理,可達(dá)100A

5、可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過阻尼兩種測(cè)試模式自然條件,欠阻尼測(cè)試時(shí)擴大公共數據,放電回路短路,不使用電阻負(fù)載體系流動性,過阻尼測(cè)試時(shí)設計標準,使用較大的高精度無感電阻作為放電負(fù)載;

6助力各行、可以作為一個(gè)信號(hào)源經過,產(chǎn)生任意波形;

7互動互補、通過示波器采集數(shù)據(jù)核心技術體系,并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度;

8實際需求、定制載樣平臺(tái)配套設備,可適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試;

9性能、可以進(jìn)行變溫測(cè)試,RT~200℃優勢;

10設計、可以進(jìn)行疲勞測(cè)試;

11協調機製、還可用于極化材料之用設備製造。


儲(chǔ)能電介電放電行為:

華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來測(cè)量。在該電路中高質量發展,首先將介電膜充電到給定電壓資源配置,之后通過閉合高速MOS高壓開關(guān),存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載攻堅克難。在放電過程中電壓對(duì)樣品的時(shí)間依賴性可以通過檢波器進(jìn)行記錄機遇與挑戰。介電材料的儲(chǔ)能性能通常取決于放電速度,可通過改變負(fù)載電阻器的電阻來調(diào)節(jié)相關。通常測(cè)試系統(tǒng)中裝了具有不同電阻的電阻器取得明顯成效。在測(cè)試過程中,用戶需要選擇電阻器或幾個(gè)電阻器的組合獲得得所需的電阻影響力範圍,并將電阻器或電阻的組合連接到測(cè)試的電介質(zhì)材料大力發展。在該電路中,選擇高壓MOSFET開關(guān)以釋放儲(chǔ)存的能量非常重要雙向互動。該開關(guān)限制電路的最大放電速度和最大充電電壓集成技術。本套測(cè)試系統(tǒng)由放電采集電路、高壓放大器或高壓直流電源和控制計(jì)算機(jī)構(gòu)成。在測(cè)試中創新的技術,測(cè)試人員需要通過選擇合適的電阻來確定測(cè)量的放電速度創新能力,測(cè)試樣品上的電壓可以由計(jì)算機(jī)自動(dòng)獲得。





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