為測出電阻率ρ與時俱進，必須測出電阻R應用、截面積S和長度L。S與L不難用各種量具測出更優質，因此測電阻率的關(guān)鍵是測出電阻R成就。測量電阻可根據(jù)被測電阻值的大小和準確度要求，采用不同測量儀器和方法貢獻法治。測量大電阻（電阻值>10⁵Ω）和中電阻（電阻值為1~10⁵Ω）密度增加，準確度要求不高時，常用兆歐表技術研究、萬用表等儀器測量是目前主流。半導體電阻的測量可用兩探針法分享、四探針法現場、高Q表法，范德堡法等開展研究。其中四探針法應用廣泛高質量。測量準確度要求較高的小電阻（電阻值<1Ω）或用電阻法研究和分析金屬與合金的組織結(jié)構(gòu)變化時，就必須采用精密的電橋法或電位差計法進行測量力量。下面介紹一下電橋法的測量方法可靠。

單電橋法是應用電壓降平衡原理，通過標準電阻和已知電阻來求得被測電阻值方式之一。其測量線路如圖4.2-5所示我有所應。被測電阻R_x與標準電阻R_N串聯(lián)，與此相對應的并聯(lián)線路中串聯(lián)可調(diào)電阻R₁和R₂首要任務。這兩對并聯(lián)線路中的B點和D點間接有檢流計G管理，k'和R'是保護檢流計用的電鍵和電阻，K2是接通檢流計用的開關(guān)深入實施。電源由E供給應用提升，并有開關(guān)K1控制不同需求。在電橋設(shè)計上要使R_N與R_x大致同數(shù)量級，R₁與R₂也相近新品技。在測試過程中發展空間，只需調(diào)節(jié)R₁與R₂，使接通了的檢流計無電流通過保持穩定，電橋達到平衡狀態(tài)就此掀開，此時V_AB=V_AD，V_BC=V_DC,即可導出關(guān)系式

根據(jù)已知的R_N，讀出調(diào)節(jié)電橋平衡時的R₁和R₂的值創造更多。由電橋線路可知，當R_N與R_x接近好宣講，并在調(diào)節(jié)時使R₁與R₂之比接近于1更默契了，則可提高被測電阻的精que度。由于單電橋法無需測出電壓和電流的值來求得R_x服務機製，它克服了電壓一電流計法的缺點流程，故其精度較高。但單電橋法所測量的被測電阻 R_X,實際上包含了導線電阻和導線與接線柱間的借出去電阻培訓。這種電阻稱為附加電阻等特點。由此可見，只有當被測電阻比較大，附加電阻引起的誤差可以忽略不計時不合理波動，才能保證這種方法的精度。

圖4.2-5 單電橋原理示意圖

所以單橋法通常適用于測量阻值為1~10Ω的試樣大幅拓展。若被測電阻較小助力各業，特別當被測電阻數(shù)量級接近附加電阻時，這些附加電阻引起的誤差就相當大重要工具，因而得不到精que的結(jié)果將進一步。在這種情況下，應使用雙電橋法提供有力支撐。