簡要描述:離子遷移是指電路板上的金屬如銅穩定性、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降發展空間。絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備創造性。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | HUACE/北京華測 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
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品牌 | 華測 | 是否定制 | 是 |
是否進(jìn)口 | 否 | 測量電壓 | 100~1500V(可定制) |
測試通道 | 128通道(可定制至高960通道) | 測試時長 | 可連續(xù)運行1500小時 |
測試溫度 | 85℃(可定制) | 測試濕度 | 85%(可定制) |
測量范圍 | 1×10^5~1×10^15Ω | 極化電壓 | 100~1500V(可定制) |
掃描周期 | 最快2分鐘(128通道) |
絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)
評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象
測試樣品材質(zhì):
1、助焊劑總之、印刷電路板長足發展、光刻膠、釬料足了準備、樹脂規模設備、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料
2穩步前行、BGA至關重要、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件
3、有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)(有機(jī)EL)
4、電容建設項目、連接器等其他電子元器件及材料
5動手能力、各種絕緣材料的吸濕性特性評估
產(chǎn)品介紹:
離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀傳遞、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降倍增效應。絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓戰略布局,并經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時可按需定制)重要意義,觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值的變化狀況講道理,從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響引領。
應(yīng)用領(lǐng)域:
封裝材料:助焊劑、印刷電路板更加廣闊、光刻膠優化服務策略、釬料、樹脂示範、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板技術節能、高密度封裝的材料;
電子材料:印BGA發展基礎、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件延伸;
有機(jī)半導(dǎo)體:PPV、NDI推進高水平、OFETs開展面對面、OSCs、OLEDs等不斷發展;
電子元器件:電容便利性、連接器等其他電子元器件及材料;
絕緣材料:各種絕緣材料的吸濕性特性評估非常重要。
技術(shù)參數(shù):
測量電壓:100~1500V(可定制)
測試通道:128通道(可定制至高960通道)
測試時長:可連續(xù)運行1500小時
測試溫度:85℃(可定制)
測試濕度:85%(可定制)
測量范圍:1×105~1×1015Ω
極化電壓:100~1500V(可定制)
掃描周期:最快2分鐘(128通道)
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