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  • 華測-高壓漏電起痕測試儀器
    華測-高壓漏電起痕測試儀器

    更新時間：2025-06-06

    型號：

    瀏覽量：4324

    華測-高壓漏電起痕測試儀器配合電壓充分、電流傳感器過程、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成融合。高壓漏電起痕試驗是在工頻電壓下,通過液體污染和傾斜試樣評定,在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損進一步完善。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級升壓漏電起痕電壓法。
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  • HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
    HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

    更新時間：2025-06-06

    型號：HCDH-3

    瀏覽量：2299

    華測高壓漏電起痕測試儀提升，是指在固體絕緣材料表面影響，在電場和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導電通路的過程。這個過程被稱為漏電起痕競爭力，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕技術先進。漏電起痕試驗是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或污染介質聯(lián)合作用下的環(huán)境技術節能，測定材料的相比漏電起痕指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）提高。華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
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  • HCLD-3漏電起痕試驗儀
    HCLD-3漏電起痕試驗儀

    更新時間：2025-07-29

    型號：HCLD-3

    瀏覽量：2346

    華測儀器-低壓漏電起痕試驗儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標準要求設計制造的試驗儀器延伸。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測定有很大提升空間，具有簡便、準確、可靠認為、實用等特點運行好。
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  • HCDH-300低壓漏電起痕測試儀器
    HCDH-300低壓漏電起痕測試儀器

    更新時間：2025-07-29

    型號：HCDH-300

    瀏覽量：2364

    低壓漏電起痕測試儀器（電痕化指數(shù)試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 （ 2mm × 5mm ） 的鉑電極之間紮實，施加某一電壓并定時 （30s） 定高度 （ 35mm ） 滴下規(guī)定液滴體積的導電液體 （0.1%NH 4 CL） 同期，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯(lián)合作用下的耐漏電，測定其相比電痕化指數(shù) （CT1） 和耐電痕化指數(shù)（PT1） 可能性更大。
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  • HCDH-200華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀
    HCDH-200華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀

    更新時間：2024-06-04

    型號：HCDH-200

    瀏覽量：1837

    華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀鍛造，主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險使命責任。電氣產(chǎn)品在使用過程中共謀發展，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電持續創新，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣創造。
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  • HCDH-200北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器
    HCDH-200北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器

    更新時間：2024-06-08

    型號：HCDH-200

    瀏覽量：2517

    北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險分析。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電知識和技能，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣技術創新。
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  • HCDH-200耐電痕化指數(shù)測試儀器
    HCDH-200耐電痕化指數(shù)測試儀器

    更新時間：2023-08-29

    型號：HCDH-200

    瀏覽量：2173

    耐電痕化指數(shù)測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險協同控製。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物高效利用、潮氣而產(chǎn)生的漏電體驗區，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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  • HCDH-200北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器
    HCDH-200北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器

    更新時間：2023-08-29

    型號：HCDH-200

    瀏覽量：1996

    北京華測*耐電痕化指數(shù)儀（電痕化指數(shù)試驗）是在固體絕緣材料表面上品質，在規(guī)定尺寸 （ 2mm × 5mm ） 的鉑電極之間提供了遵循，施加某一電壓并定時 （30s） 定高度 （ 35mm ） 滴下規(guī)定液滴體積的導電液體 （0.1%NH 4 CL） ，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯(lián)合作用下的耐漏電能運用，測定其相比電痕化指數(shù) （CT1） 和耐電痕化指數(shù)（PT1） 利用好。北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器
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