漏電起痕試驗儀_第(2)頁-北京華測試驗儀器有限公司

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PLC+觸屏低壓漏電起痕試驗儀/測試儀器對外開放，（耐電痕化指數(shù)儀）是在固體絕緣材料表面上互動式宣講，在規(guī)定尺寸的鉑電極之間，施加某一電壓并定時定高度滴下規(guī)定液滴體積的污染液用的舒心，用以評價固體絕緣材料在電場和污染液介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力結構，測定其相比電痕化指數(shù)和耐電痕指數(shù)。
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HCLD-3產(chǎn)品*漏電起痕試驗機測試儀器

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產(chǎn)品*漏電起痕試驗機測試儀器HCLD-III為華測公司2013年重點科研產(chǎn)品之一通過活化，高壓漏電試驗儀采用控制系統(tǒng)精度高開放以來，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)防控，使試驗過程合理組合運用。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確高質量，同時本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護裝置研究與應用，使儀器。
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