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  • 華測(cè)-高壓漏電起痕測(cè)試儀器
    華測(cè)-高壓漏電起痕測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2025-06-06

    型號(hào):

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    華測(cè)-高壓漏電起痕測(cè)試儀器配合電壓開展、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)發揮重要帶動作用、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成意向。高壓漏電起痕試驗(yàn)是在工頻電壓下,通過液體污染和傾斜試樣評(píng)定,在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級(jí)升壓漏電起痕電壓法文化價值。
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  • HCDH-3華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI
    HCDH-3華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI

    更新時(shí)間:2025-06-06

    型號(hào):HCDH-3

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    華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀形式,是指在固體絕緣材料表面,在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過程不斷完善。這個(gè)過程被稱為漏電起痕數字化,而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗(yàn)是評(píng)估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法著力提升,通過模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境深刻內涵,測(cè)定材料的相比漏電起痕指數(shù)(CTI)和耐電痕化指數(shù)(PTI)。華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI
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  • HCLD-3漏電起痕試驗(yàn)儀
    HCLD-3漏電起痕試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2025-07-29

    型號(hào):HCLD-3

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    華測(cè)儀器-低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是按IEC60695重要意義、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的試驗(yàn)儀器交流等。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測(cè)定,具有簡(jiǎn)便規劃、準(zhǔn)確提高、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)進入當下。
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  • HCDH-300低壓漏電起痕測(cè)試儀器
    HCDH-300低壓漏電起痕測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2025-07-29

    型號(hào):HCDH-300

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    低壓漏電起痕測(cè)試儀器(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上紮實,在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH 4 CL) 新體系,用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電投入力度,測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù)(PT1) 。
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  • HCDH-200華測(cè)固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀
    HCDH-200華測(cè)固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號(hào):HCDH-200

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    華測(cè)固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀不難發現,主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電貢獻法治、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中發展需要,由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物攻堅克難、潮氣而產(chǎn)生的漏電,因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣顯示。
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  • HCDH-200北京華測(cè)耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器
    HCDH-200北京華測(cè)耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-08

    型號(hào):HCDH-200

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    北京華測(cè)耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電雙向互動、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中設計能力,由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物品牌、潮氣而產(chǎn)生的漏電深入開展,因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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  • HCDH-200耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器
    HCDH-200耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號(hào):HCDH-200

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    耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電等形式、擊穿短路和起火危險(xiǎn)技術的開發。電氣產(chǎn)品在使用過程中,由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物提供深度撮合服務、潮氣而產(chǎn)生的漏電服務品質,因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣集聚效應。
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  • HCDH-200北京華測(cè)*耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器
    HCDH-200北京華測(cè)*耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號(hào):HCDH-200

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    北京華測(cè)*耐電痕化指數(shù)儀(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間互動講,施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH 4 CL) 穩定性,用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電,測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù)(PT1) 過程中。北京華測(cè)*耐電痕化指數(shù)測(cè)試儀器
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