簡要描述:HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀:熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響切實把製度,它基于三個基本效應:塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應改革創新。塞貝克效應是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發(fā)現(xiàn)的最新,描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | HUACE/北京華測 | 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
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溫度范圍 | RT ~ 800/1100/1500℃ | 樣品尺寸(圓柱形或棱柱形) | 2 至 5 mm(面寬)實現,23mmφ6mm,23mm |
樣品尺寸(圓盤狀) | 10舉行、 12.7、 25.4 mm | 可調(diào)探頭距離 | 4、 6的特點、 8 mm |
塞貝克系數(shù)測量范圍 | 1 ~ 2500μV/K 準確度±7%高質量;重復性±3% |
塞貝克系數(shù)電阻測試儀
HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀產(chǎn)品介紹
熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響,它基于三個基本效應:塞貝克效應適應性、珀爾帖效應和湯姆森效應迎難而上。塞貝克效應是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發(fā)現(xiàn)的,描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成激發創作。與之相反更高效,熱電冷卻效應描述通過施加電流獲得溫度差的現(xiàn)象。電能和熱能的轉(zhuǎn)換效率是材料物理特性探索,用塞貝克系數(shù)S表征過程,其與溫度相關。
目前融合,使用化石燃料生成的二氧化碳導致*變暖加劇進一步完善,而人們也面臨能源枯竭的問題,利用熱電轉(zhuǎn)換元件收集余熱并有效利用引起人們的廣泛注意提升。另外影響,利用熱電冷卻效應進行制冷是熱電特性的重要應用。
隨著化石燃料越來越少競爭力,二氧化碳排放量不斷增加製高點項目,*變暖也在加劇,因此有效的熱電轉(zhuǎn)換越來越受關注的過程中。利用熱電發(fā)電機(TEG)收集熱機余熱(如汽車或傳統(tǒng)發(fā)電廠)物聯與互聯,并將其轉(zhuǎn)換成電能狀況,以提高其轉(zhuǎn)換效率。同時取得了一定進展,通過帕爾貼進行冷卻的應用也越來越受關注業務,例如激光器中的恒溫溫度臨界元件、優(yōu)異熱電材料有所增加。通常根據(jù)無量綱優(yōu)值ZT來衡量材料的熱電轉(zhuǎn)換效率完善好,由熱導率、塞貝克系數(shù)和導電率計算得出供給。
由此全過程,華測儀器研發(fā)了一系列簡單易用和優(yōu)異的材料表征儀器。華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率全面革新。
熱功率勞動精神、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應熱電電壓的大小方便,單位是V/K明顯。
近年來直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發(fā)動機和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元。
為了應對一系列挑戰(zhàn)性的應用,華測儀器已經(jīng)開發(fā)出HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)/電阻率測試系統(tǒng)用于分析材料和器件的特性服務水平。
HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀應用領域
熱電材料開發(fā)與性能優(yōu)化
• 測量半導體線上線下、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導率能力建設,計算ZT值(熱電優(yōu)值)知識和技能;
• 評估材料在高溫(如1500℃)或惡劣環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率。
能源材料與器件研究
• 鋰離子電池電極材料醒悟、固態(tài)電解質(zhì)的電阻率與界面接觸特性分析進行部署;
• 燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試。
電子與功能材料表征
• 半導體薄膜新模式、導電高分子重要作用、金屬氧化物的電輸運特性研究;
• 高溫超導材料應用情況、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關系曲線測定很重要。
工業(yè)材料質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化
• 合金、陶瓷也逐步提升、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測保護好,指導燒結(jié)工藝參數(shù)調(diào)整;
• 高溫涂層組織了、耐腐蝕材料在模擬工況(如真空充足、惰性氣氛)下的電學行為評估註入了新的力量。
科研與標準化測試
• 高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究異常狀況;
• 依據(jù)國際標準(如ASTM E1225)開展材料熱電性能認證測試說服力。
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品型號:HC-RD-1100
溫度范圍:RT ~ 800/1100/1500℃
測量原理;塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法 蓬勃發展; 電阻率:四端法
氣氛:惰性作用、氧化、還原落實落細、真空
樣品支架:三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間
樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2 至 5 mm(面寬)意見征詢,23mmφ6mm,23mm
樣品尺寸(圓盤狀):10深入闡釋、 12.7集聚、 25.4 mm
可調(diào)探頭距離:4、 6大大提高、 8 mm
塞貝克系數(shù)測量范圍:1 ~ 2500μV/K 準確度±7%新的動力;重復性±3%
電導率測量范圍:0.01 ~ 2*10 5 s/cm 準確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%
電源:0 ~ 1A調整推進,具長期穩(wěn)定性
電極材料:鎳(-100至500°C)/鉑(-100至+1500°C)
熱電偶:K/S/C型
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