MLCC高壓電容器高電場介電緊迫性、損耗、電滯回線測試系統(tǒng)

MLCC高壓電容器高電場介電損耗電滯回線系統(tǒng)可實現(xiàn)從低頻到高頻信號的輸出與測量機構，系統(tǒng)由工控機發(fā)出指令非常激烈，單片機控制FPGA發(fā)出測量波形，F(xiàn)PGA一路信號控制不同頻率幅值的信號由高壓放大器進(jìn)行電壓放大后更適合，施加在樣品上技術交流，另一路施加在鎖相放大器作為參考信號開展試點，不同頻率幅值的高壓信號加載樣樣品上，樣品測量的信號測量后可靠保障，再回傳FPGA測試板卡廣泛關註。測量的數(shù)據(jù)再由單片機回傳工控機進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

它使用真正的 AC DFR（介電頻率響應(yīng)）機製，保持出色的準(zhǔn)確性和提供可靠數(shù)據(jù)的能力各項要求，可在高干擾環(huán)境中獲得可靠的測試結(jié)果。 該軟件使測試既簡單又快捷發力，它可在進(jìn)行不同溫度優勢與挑戰，頻率下測量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)。本套系統(tǒng)可以在任意電壓激勵下的介電響應(yīng)測試根據(jù)需要自定義輸出任意電壓波形激勵越來越重要的位置，滿足對不同條件下不同絕緣材料不同方面的測試需求問題分析，較好地適應(yīng)用戶需求。

設(shè)計框圖

產(chǎn)品優(yōu)勢

MLCC高壓電容器高電場介電損耗電滯回線系統(tǒng)對被測信號進(jìn)行調(diào)整的信號源解決方案，由鎖相放大器的信號輸出端提供不負眾望，采用內(nèi)部參考模式，這種模式幅于鎖相放大器對直接可以獲取的參考信號的幅度及相位交流研討，測量精度更高推動並實現。數(shù)字鎖相放大器不會由于算法計算而引入或考增加噪聲，并且基本不受外界環(huán)境的干擾順滑地配合。