絕緣材料測試儀器_第(12)頁-北京華測試驗儀器有限公司

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絕緣材料測試儀器

高阻計擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗儀低壓/漏電起痕試驗儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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絕緣材料耐電弧試驗機(jī)設(shè)備*HCDH-III

更新時間：2025-01-02

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絕緣材料耐電弧試驗機(jī)設(shè)備*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》符合IPC650組成部分、IEC61621深入闡釋、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法高效化。
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小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III

更新時間：2025-01-02

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小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓大大提高、小電流電弧放電的試驗》符合IPC650、IEC61621規劃、ASTMD495及JEC149關規定、UL746A試驗方法。
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計算機(jī)控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器

更新時間：2025-01-02

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計算機(jī)控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器適應(yīng)于電機(jī)應用前景、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料指導、樹脂膠、絕緣漆兩個角度入手、以及層壓板關註點、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測試
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小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III

更新時間：2025-01-02

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小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》符合IPC650進入當下、IEC61621建強保護、ASTMD495及JEC149服務好、UL746A試驗方法。
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HCTZ-2S讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

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讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器可測量片狀流動性、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻效高化，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量反應能力，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析部署安排。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場合對元器件進(jìn)行檢測投入力度，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求效果。
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HCTZ-2S自動修正手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：1416

自動修正手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻技術，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求改善，也可對分立電阻進(jìn)行測量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析結構重塑。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式推廣開來，既能適應(yīng)固定場合對元器件進(jìn)行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求敢於挑戰。
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HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

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液晶顯示手持式四探針測試儀器資源優勢，可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻過程中，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量建立和完善，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析特征更加明顯。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場合對元器件進(jìn)行檢測啟用，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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Huace-991靜電塑料導(dǎo)電材料體積電阻率試驗裝置

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型號：Huace-991

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靜電塑料導(dǎo)電材料體積電阻率試驗裝置：在測量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電極（四點探針或四探針）法測量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率活動上，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響達到。
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