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半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)因?yàn)闊岽碳る娏髋c材料的這些參數(shù)(如h與τ)密切相關(guān)集成技術,故它是一種研究介電材料新創新即將到來、絕緣材料、半導(dǎo)體材料等的有效手段創新的技術。tsc是指當(dāng)樣品受到電場(chǎng)極化后設計能力,去掉電場(chǎng)更合理,熱激時(shí),樣品從極化態(tài)轉(zhuǎn)變到平衡態(tài)的過程中適應性,在外電路中得到的電流顯著,稱為熱激退極化電流。

  • 產(chǎn)品型號(hào):HC-TSC2000
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2025-08-01
  • 訪  問  量:1415

詳細(xì)介紹

品牌HUACE/北京華測(cè)產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,電子/電池,電氣,綜合

 

半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)


熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的引人註目,研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)(如電介質(zhì)關註、絕緣材料、半導(dǎo)體拓展、駐極體等)的微觀參數(shù)共同,熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測(cè)量,即非等溫測(cè)量。由于材料(例如介電材料)中的荷電粒子的微觀參數(shù)(如活化能h在此基礎上、松弛時(shí)間τ等)不同,用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來探索創新,從而求出各自的參數(shù)開展。因?yàn)闊岽碳る娏髋c材料的這些參數(shù)(如h與τ)密切相關(guān),故它是一種研究介電材料前來體驗、絕緣材料簡單化、半導(dǎo)體材料等的有效手段。tsc是指當(dāng)樣品受到電場(chǎng)極化后發揮重要帶動作用,去掉電場(chǎng)開拓創新,熱激時(shí),樣品從極化態(tài)轉(zhuǎn)變到平衡態(tài)的過程中明確了方向,在外電路中得到的電流去完善,稱為熱激退極化電流。


一個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行塊體陶瓷材料的熱激發(fā)極化電流TSDC必然趨勢、電阻和鐵電進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)設備,設(shè)備可以遠(yuǎn)程接入華測(cè)遠(yuǎn)程服務(wù)平臺(tái),可針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件升級(jí)服務(wù)文化價值,對(duì)用戶遠(yuǎn)程指導(dǎo)及技術(shù)支持




特點(diǎn):

支持的硬件:

內(nèi)置或外置的高壓放大器(+/-100V到+/-10 kV)

塊體陶瓷樣品夾具

溫度控制器和溫度腔

測(cè)試功能:

熱釋電測(cè)試

漏電流測(cè)試

疲勞測(cè)試

用戶定義激勵(lì)波形


半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)原理:

介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流促進善治≈v故事;痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間,加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)求索,然后施加一個(gè)直流的極化電壓置之不顧,經(jīng)過一段時(shí)間使樣品充分極化,以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向奮勇向前,隨后立即降溫到低溫引領作用,使各類極化“凍結(jié)",然后以等速率升溫豐富,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜“凍結(jié)",然后以等速率升溫善於監督,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系大局,即得到TSDC譜


系統(tǒng)應(yīng)用:

廣泛應(yīng)用于電力、絕緣數據、生物分子等領(lǐng)域效率和安,用于研究材料的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫邁出了重要的一步、相轉(zhuǎn)變產能提升、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間品牌、活化能等相關(guān)的介電特性適應能力。TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性節點。


主要技術(shù)參數(shù):

極化電壓:±0-10kV(最大電壓)

極化電流:10fA~20mA

控溫精度:±0.5℃

測(cè)量精度:0.05%

升降溫速率快:0.01~ 30 ℃/min

溫度范圍寬:- 185 ~ 500 ℃

升降溫速率快:(0.01 ~ 30)℃/min

多種獨(dú)立變量:溫度快速增長、極化電壓、極化時(shí)間、升降溫速率等

多種測(cè)量模式:

熱激勵(lì)去極化通過活化、熱激勵(lì)極化、等溫極化時(shí)域等形式、等溫電導(dǎo)率時(shí)域防控、等溫弛豫譜等

多種測(cè)量參數(shù):樣品電流、電流密度的特點、電荷變化高質量、介電常數(shù)變化等

通訊:USB接口

半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)














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