半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：

高低溫環(huán)境下的絕緣電阻測試技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能積極參與。電介質(zhì)樣品暴露在高電場強(qiáng)度和高溫環(huán)境下。在這種情況下經驗分享，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負(fù)阻性的特征探討，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關(guān)性表明搖籃，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴(yán)重持續創新，而HTRB性能越差，因此使用，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個關(guān)鍵測量手段分析。關(guān)于環(huán)氧塑封料（EMC， Epoxy Molding Compound）高低溫測試技術(shù)不難發現，已證明此測試方式是有效的合規意識，同時加速國產(chǎn)化IGBT、MOSFET等功率器件的研發(fā)推動。如無錫凱華協調機製、中科科化、飛凱材料等企業(yè)有效性。

設(shè)備優(yōu)勢：

1高質量發展、消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響

在超高阻、弱信號測量過程中形勢、輸入偏置電流和泄漏電流都會引起測量誤差攻堅克難。同時電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備高效節能，將對電網(wǎng)造成諧波干擾相關。以致影響弱信號的采集，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及用新測試分析技術(shù),實現(xiàn)了高達(dá)1fA(10-15 A)的測量分辨率,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測試需求基地。

2影響力範圍、消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能 強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽

自動平均值是檢測電流的變化，并自動將其進(jìn)行平均化的功能表現， 在查看測量結(jié)果的同時不需要改變設(shè)置異常狀況。通過自動排除充電電流的過渡響應(yīng)時或接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致偏差較大。電流輸入端口全新采用大口徑三軸連接器的積極性，是將內(nèi)部屏蔽連接至GUARD(COM)線更多可能性，外部屏蔽連接至GROUND的3層同軸設(shè)計。兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時的安全性重要意義。

3問題、采用測量前等待的方式，讓材料受熱均勻

當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定溫度后效率，樣品的均勻受熱會有一定的滯后現(xiàn)象，采用達(dá)到設(shè)備溫度保持時間，采用測量前等待的方式十大行動≈匾?？梢宰尣牧鲜軣岣鶆颍瑴y量更加科學(xué)合理體系。

4系統穩定性、強(qiáng)大的操作軟件

測試系統(tǒng)的軟件平臺 Huacepro ，基于labview系統(tǒng)開發(fā)多種場景，符合功能材料的各項測試需求科技實力，具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性，并具備斷電資料的保存功能集中展示，圖像資料也可保存恢復(fù)可靠保障。支持最新的國際標(biāo)準(zhǔn)，兼容XP建設、win7共同、win10系統(tǒng)。

產(chǎn)品參數(shù)：

設(shè)備型號：SIR-450

溫度范圍：-185 ~ 350 °C

控溫精度：0.5 °C

升溫斜率：10°C/min（可設(shè)定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³ Ω ~ 1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅或銀;

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

數(shù)據(jù)傳輸：RS-232

設(shè)備尺寸：180 x 210 x 50mm