高電場介電、損耗的可能性、漏電流測試系統(tǒng)

高電場介電進一步推進、損耗、漏電流測試系統(tǒng)可實現(xiàn)從低頻到高頻信號的輸出與測量系列，系統(tǒng)由工控機發(fā)出指令明確相關要求，單片機控制FPGA發(fā)出測量波形，F(xiàn)PGA一路信號控制不同頻率幅值的信號由高壓放大器進行電壓放大后方案，施加在樣品上特點，另一路施加在鎖相放大器作為參考信號，不同頻率幅值的高壓信號加載樣樣品上統籌發展，樣品測量的信號測量后品質，再回傳FPGA測試板卡積極回應。測量的數(shù)據(jù)再由單片機回傳工控機進行數(shù)據(jù)處理。

它使用真正的 AC DFR（介電頻率響應(yīng)）深化涉外，保持出色的準(zhǔn)確性和提供可靠數(shù)據(jù)的能力全會精神，可在高干擾環(huán)境中獲得可靠的測試結(jié)果。 該軟件使測試既簡單又快捷又進了一步，它可在進行不同溫度智能化，頻率下測量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)。本套系統(tǒng)可以在任意電壓激勵下的介電響應(yīng)測試根據(jù)需要自定義輸出任意電壓波形激勵拓展基地，滿足對不同條件下不同絕緣材料不同方面的測試需求綜合措施，較好地適應(yīng)用戶需求。

設(shè)計框圖

產(chǎn)品優(yōu)勢

對被測信號進行調(diào)整的信號源，由鎖相放大器的信號輸出端提供等特點，采用內(nèi)部參考模式使用，這種模式幅于鎖相放大器對直接可以獲取的參考信號的幅度及相位，測量精度更高不合理波動。數(shù)字鎖相放大器不會由于算法計算而引入或考增加噪聲建言直達，并且基本不受外界環(huán)境的干擾。