簡要描述:HCTZ-2S華測四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的效率,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器增強。儀器由主機文化價值、測試臺、四探針探頭置之不顧、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示新格局,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析特點,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果情況正常。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | HUACE/北京華測 | 價格區(qū)間 | 1萬-3萬 |
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自動化度 | 全自動 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池 |
產(chǎn)品名稱:華測四探針測試儀
產(chǎn)品型號:HCTZ-2S
品牌:北京華測
一奮戰不懈、產(chǎn)品介紹
HCTZ-2S華測四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備結構不合理。儀器由主機新品技、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成研究進展,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示核心技術體系,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格有所增加,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果非常完善。
HCTZ-2S雙電測數(shù)字式四探針試驗儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針讓人糾結、電壓探針的變換不斷完善,采用兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析全面革新,自動消除樣品幾何尺寸勞動精神、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比方便,大大提高精確度明顯,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析基礎上。
測試程序控制四探針試驗儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)安全鏈,把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格預下達,圖形直觀地記錄增持能力、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看創新為先,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中提高鍛煉,讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。
1新模式、使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸承,量具精度的硬質(zhì)合金探針高質量,在寶石導(dǎo)孔內(nèi)運動,持久耐磨很重要,測量精度高、重復(fù)性好。
A.探頭間距1.00㎜
B.探針機械游率:±0.3%
C.探針直徑0.5㎜
D.探針材料:碳化鎢保護好,常溫不生銹
E探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆能力和水平。
手動測試架探頭上下由手動操作充足,可以用作斷面單晶棒和硅片測試註入了新的力量,探針頭可上下移動距離:120mm,測試臺面200x200(mm)異常狀況。
三積極、產(chǎn)品應(yīng)用
HCTZ-2S四探針試驗儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)前景、高等院校經驗、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫長效機製、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具進一步意見。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示等地,無需人工計算產業,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制共享應用,恒流輸出工具,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏為產業發展,軟件可保存和打印數(shù)據(jù)研究成果,自動生成報表;本儀器可顯示電阻穩定、電阻率機製性梗阻、方阻、溫度廣泛關註、單位換算改造層面、溫度系數(shù)、電流各項要求、電壓大面積、探針形狀、探針間距優勢與挑戰、厚度集成應用、電導(dǎo)率,配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求問題分析。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購迎來新的篇章。
四、產(chǎn)品特點
2.本儀器的特點是主機配置三個數(shù)字表不負眾望,在測量電阻率的同時共同學習,一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全程的電流變化,及時掌控測量電流聯動,一塊顯示2各領域、3探針間的測量電壓,另一塊是顯示當前1技術特點、4探針測量使用的電壓的有效手段,可以適當調(diào)整測量電壓避免材料耐壓不夠而電壓擊穿被測材料。
3.主機還提供精度為0.05%的恒流源取得顯著成效,使測量電流高度穩(wěn)定處理方法。本機配有恒流源開關(guān),在測量某些薄層材料時責任,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生服務,好地保護薄膜。采用低通濾波電流檢測技術(shù)以保證采集電流的有效值 持續向好,以及電流抗干擾的屏蔽舉行。
4.探針采用碳化鎢硬質(zhì)合金,硬度高不容忽視、常溫不生銹習慣,探針游移率在0.1~0.2%記得牢。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準確度。本機如加配測量軟件覆蓋,測量硅片時可自動進行厚度服務體系、直徑、探針間距的修正重要的作用,并計算特點、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的大百分變化搶抓機遇、平均百分變化綠色化發展、徑向電阻率不均勻度,給測量帶來很大方便結論。軟件平臺
5.HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件應用創新,具備彈性的自定義功能,可進行電壓足夠的實力、電流和諧共生。
6.儀器通過USB轉(zhuǎn)RS232連接線與電腦連接,軟件可對四探針電阻率測量數(shù)據(jù)進行處理并修正測量數(shù)據(jù)全會精神,特定數(shù)據(jù)存儲格式製高點項目,顯示變化曲線,兼容性:適用于通用電腦
7.測試系統(tǒng)的軟件平臺hcpro的過程中,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項測試需求狀況,具備穩(wěn)定性和安an全性範圍和領域,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù)業務。兼容XP、win7、win10系統(tǒng)完善好。
具有試驗電壓設(shè)置功能;
可選擇試驗標準
可選擇是否自定義或自動試驗
截止條件:時間/電壓/電流;
語音提示:可選擇是否語音提示功能全過程。
統(tǒng)計報告:可自定報表格式
可生出PDF更高要求、CSV、XLS文件格式
分析功能:可對測試的數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計優勢領先。大/小值經驗分享、平均值等。
六新技術、技術(shù)參數(shù)
測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105Ω培養, 分辨率:1×10-5~1×102Ω
電阻率:1×10-4~2×105Ω-cm, 分辨率:1×10-5~2×102Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105Ω/□, 分辨率:5×10-5~1×102Ω/□
數(shù)字電壓表
量程:20.00mV~2000mV
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
數(shù)控恒流源
量程:0.1μA高效流通,1μA預判,10μA,100μA有力扭轉,1mA調解製度,10mA,100mA,1A
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
四探針探頭
碳化鎢探針:Ф0.5mm推動,直流探針間距1.0mm協調機製,探針壓力:0~2kg可調(diào)
薄膜方阻探針:Ф0.7mm,直流或方形探針間距2.0mm有效性,探針壓力:0~0.6kg可調(diào)
七高質量發展、注意事項
1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書形勢,規(guī)范操作
2很重要、輕拿輕放,避免儀器震動也逐步提升,水平放置保護好,垂直測量
3、儀器不使用時請切斷電源組織了,連接線無需經(jīng)常拔下充足,避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象
4、探針筆測試結(jié)束表現,套好護套異常狀況,避免人為斷針
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