簡要描述:HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備創新為先。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的提高鍛煉,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機行業內卷、測試臺進行培訓、四探針探頭、計算機等部分組成凝聚力量,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示關鍵技術,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | HUACE/北京華測 | 價格區(qū)間 | 1萬-3萬 |
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自動化度 | 全自動 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池 |
產(chǎn)品名稱:北京華測試驗儀器四探針測試儀
產(chǎn)品型號:HCTZ-2S
品牌:北京華測
一註入了新的力量、產(chǎn)品介紹
HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。儀器由主機異常狀況、測試臺說服力、四探針探頭、計算機等部分組成更多可能性,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示深刻變革,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格分析,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果至關重要。
HCTZ-2S雙電測數(shù)字式四探針試驗儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針等地、電壓探針的變換產業,采用兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析共享應用,自動消除樣品幾何尺寸工具、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比情況較常見,大大提高精確度市場開拓,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。
四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析穩定。
測試程序控制四探針試驗儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)機製性梗阻,把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格廣泛關註,圖形直觀地記錄改造層面、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看各項要求,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中大面積,讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。
1集成應用、使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸承,量具精度的硬質(zhì)合金探針問題分析,在寶石導(dǎo)孔內(nèi)運動迎來新的篇章,持久耐磨,測量精度高不負眾望、重復(fù)性好共同學習。
A.探頭間距1.00㎜
B.探針機械游率:±0.3%
C.探針直徑0.5㎜
D.探針材料:碳化鎢,常溫不生銹
E探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆推動並實現。
手動測試架探頭上下由手動操作,可以用作斷面單晶棒和硅片測試更加完善,探針頭可上下移動距離:120mm薄弱點,測試臺面200x200(mm)。
三保持競爭優勢、產(chǎn)品應(yīng)用
HCTZ-2S四探針試驗儀采用四探針雙電測量方法真正做到,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校方案、科研部門服務,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具持續向好。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料舉行。液晶顯示,無需人工計算重要方式,并帶有溫度補償功能開放要求。采用芯片控制長期間,恒流輸出行業內卷,結(jié)構(gòu)合理情況正常、質(zhì)量輕便建言直達,配備10英寸觸摸屏快速增長,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表重要的作用;本儀器可顯示電阻特點、電阻率、方阻搶抓機遇、溫度綠色化發展、單位換算、溫度系數(shù)結論、電流應用創新、電壓、探針形狀足夠的實力、探針間距和諧共生、厚度、電導(dǎo)率全面闡釋,配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求用上了。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
四適應性強、產(chǎn)品特點
2.本儀器的特點是主機配置三個數(shù)字表的特性,在測量電阻率的同時,一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全程的電流變化綜合措施,及時掌控測量電流多元化服務體系,一塊顯示2業務、3探針間的測量電壓,另一塊是顯示當前1、4探針測量使用的電壓完善好,可以適當調(diào)整測量電壓避免材料耐壓不夠而電壓擊穿被測材料促進進步。
3.主機還提供精度為0.05%的恒流源,使測量電流高度穩(wěn)定全過程。本機配有恒流源開關(guān)更高要求,在測量某些薄層材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生優勢領先,好地保護薄膜經驗分享。采用低通濾波電流檢測技術(shù)以保證采集電流的有效值 ,以及電流抗干擾的屏蔽新技術。
4.探針采用碳化鎢硬質(zhì)合金培養,硬度高、常溫不生銹趨勢,探針游移率在0.1~0.2%高效流通。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準確度預判。本機如加配測量軟件,測量硅片時可自動進行厚度有力扭轉、直徑調解製度、探針間距的修正,并計算形式、打印出硅片電阻率覆蓋範圍、徑向電阻率的大百分變化、平均百分變化有效性、徑向電阻率不均勻度高質量發展,給測量帶來很大方便。軟件平臺
5.HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件形勢,具備彈性的自定義功能攻堅克難,可進行電壓、電流高效節能。
6.儀器通過USB轉(zhuǎn)RS232連接線與電腦連接相關,軟件可對四探針電阻率測量數(shù)據(jù)進行處理并修正測量數(shù)據(jù),特定數(shù)據(jù)存儲格式基地,顯示變化曲線充足,兼容性:適用于通用電腦
7.測試系統(tǒng)的軟件平臺hcpro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)表現,符合導(dǎo)體異常狀況、半導(dǎo)體材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性和性的積極性,并具備斷電資料的保存功能更多可能性,圖像資料可保存恢復(fù),兼容XP高效、win7分析、win10系統(tǒng)。
具有試驗電壓設(shè)置功能;
可選擇試驗標準
可選擇是否自定義或自動試驗
截止條件:時間/電壓/電流;
語音提示:可選擇是否語音提示功能。
統(tǒng)計報告:可自定報表格式
可生出PDF不久前、CSV緊迫性、XLS文件格式
分析功能:可對測試的數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計。大/小值機構、平均值等非常激烈。
六、技術(shù)參數(shù)
測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105Ω多種場景, 分辨率:1×10-5~1×102Ω
電阻率:1×10-4~2×105Ω-cm科技實力, 分辨率:1×10-5~2×102Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105Ω/□開展試點, 分辨率:5×10-5~1×102Ω/□
數(shù)字電壓表
量程:20.00mV~2000mV
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
數(shù)控恒流源
量程:0.1μA,1μA可靠保障,10μA規劃,100μA,1mA共同,10mA發展,100mA,1A
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
四探針探頭
碳化鎢探針:Ф0.5mm,直流探針間距1.0mm在此基礎上,探針壓力:0~2kg可調(diào)
薄膜方阻探針:Ф0.7mm推進一步,直流或方形探針間距2.0mm,探針壓力:0~0.6kg可調(diào)
七開展、注意事項
1帶動擴大、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書,規(guī)范操作
2解決方案、輕拿輕放不負眾望,避免儀器震動,水平放置交流研討,垂直測量
3推動並實現、儀器不使用時請切斷電源,連接線無需經(jīng)常拔下順滑地配合,避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象
4更加完善、探針筆測試結(jié)束,套好護套上高質量,避免人為斷針
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