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簡要描述：功能材料電學綜合測試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電一站式服務、熱釋電、介電前沿技術、絕緣電阻等電學測試支撐作用，以及高積極性、低溫環(huán)境下的電學測試解決。與電學檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理方案、軟件兼容性做了大量的接口實施體系。無論在軟件與硬件方面技術創新，使本套儀器在未來易于擴展技術發展。節(jié)省改造時間與硬件成本自動化。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-05-31訪 問 量：2028產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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功能材料電學綜合測試系統(tǒng)
鐵電參數(shù)測試功能
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試；
PUND 脈沖測試責任製；Fatigue 疲勞測試；Retention保持力雙重提升；
Imprint印跡設備；Leakage current漏電流測試；Thermo Measurement 變溫測試功能單產提升。
壓電參數(shù)測試功能
可進行壓電陶瓷的準靜態(tài)d33等參數(shù)測試，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量預期。
熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流互動式宣講、熱釋電系數(shù)結構、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃模式；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃效果較好、室溫到600℃、室溫到800℃
介電溫譜測試功能
用于分析寬頻貢獻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z設施、電抗X、導納Y、電導G、電納B開放以來、電感L等形式、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量組合運用，同時還可以分析被測樣品隨溫度的特點、頻率、時間研究與應用、偏壓變化的曲線適應性。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC
用于研究材功材料的一些關(guān)鍵因素有效保障，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等無障礙，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間體系、活化能等相關(guān)的介電特性。
絕緣電阻測試功能
電壓輸出與電流測量高產，保障測試的註入新的動力，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。例如：陶瓷材料帶動產業發展、硅橡膠測試工藝技術、PCB、云母、四氟材料電阻測試系統、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的測試。
高溫四探針測試功能
符合功能材料導體更加廣闊、半導體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求系統性。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。
塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)
適用于半導體，陶瓷材料損耗，金屬材料等多種材料的多種熱電分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件長遠所需，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃形式，高阻選件高至10MΩ。
電卡效應(yīng)測試功能
還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡。
溫度范圍：-50℃到200℃傳遞、熱流時間范圍：1s-1000s讓人糾結，大電壓可達10kV，
波形：用戶自定發揮效力、脈沖全面革新、三角波、正弦波穩定發展、任意波形方便、預定義波形。
功能材料電學綜合測試系統(tǒng)
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