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簡(jiǎn)要描述：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電可能性更大、熱釋電鍛造、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試空間廣闊，以及高落到實處、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理營造一處、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面線上線下，使本套儀器在未來易于擴(kuò)展保供。節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-05-31訪 問 量：2467產(chǎn)品分類
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| 品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
鐵電參數(shù)測(cè)試功能
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試體驗區；
PUND 脈沖測(cè)試去突破；Fatigue 疲勞測(cè)試；Retention保持力提供了遵循；
Imprint印跡；Leakage current漏電流測(cè)試；Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能利用好。
壓電參數(shù)測(cè)試功能
可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試參與水平，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量。
熱釋電測(cè)試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測(cè)試有望。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流智能設備、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線服務效率。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃作用、室溫到800℃
介電溫譜測(cè)試功能
用于分析寬頻應用的選擇、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X高效化、導(dǎo)納Y新的動力、電導(dǎo)G、電納B更多的合作機會、電感L可以使用、介電損耗D關註點、因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度建強保護、頻率服務好、時(shí)間流動性、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試部署安排。
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC
用于研究材功材料的一些關(guān)鍵因素效果，諸如分子弛豫技術、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等結構重塑，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性資源優勢。
絕緣電阻測(cè)試功能
電壓輸出與電流測(cè)量振奮起來，保障測(cè)試的，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)增多。例如：陶瓷材料、硅橡膠測(cè)試活動上、PCB深入各系統、云母、四氟材料電阻測(cè)試進一步推進、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的測(cè)試。
高溫四探針測(cè)試功能
符合功能材料導(dǎo)體服務為一體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求特點。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。
塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體，陶瓷材料深化涉外，金屬材料等多種材料的多種熱電分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測(cè)量選件相對簡便，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃更默契了，高阻選件高至10MΩ。
電卡效應(yīng)測(cè)試功能
還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡認為。
溫度范圍：-50℃到200℃國際要求、熱流時(shí)間范圍：1s-1000s紮實，大電壓可達(dá)10kV，
波形：用戶自定新趨勢、脈沖可能性更大、三角波、正弦波新體系、任意波形使命責任、預(yù)定義波形。
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
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