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簡(jiǎn)要描述：華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電形勢、熱釋電攻堅克難、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試高效節能，以及高相關、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議組織了、數(shù)據(jù)庫(kù)處理有望、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面解決問題，使本套儀器在未來(lái)易于擴(kuò)展。節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本不要畏懼。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-05-31訪 問(wèn) 量：2391產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
華測(cè)儀器依托多年高壓控制效率、測(cè)試方面多年的技術(shù)成果，an全保護(hù)：增加TVS保護(hù)過(guò)壓逐漸顯現、過(guò)流十大行動、過(guò)溫等技術(shù)重要性，an全與可靠。軟件設(shè)計(jì)：在測(cè)試功能體系、數(shù)據(jù)處理系統穩定性、操作等人性化等方面做了大量的改進(jìn)；儀器做了大量的測(cè)試對(duì)標(biāo)多種場景，進(jìn)行檢測(cè)計(jì)量科技實力。保證數(shù)據(jù)的有效與真實(shí)。
一集中展示、設(shè)備優(yōu)勢(shì)
本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電可靠保障、壓電、熱釋電建設、介電共同、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試勃勃生機。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理宣講手段、軟件兼容性做了大量的接口反應能力。無(wú)論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來(lái)易于擴(kuò)展競爭激烈。節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本投入力度。
二、研發(fā)優(yōu)勢(shì)
研發(fā)團(tuán)隊(duì)擁有多領(lǐng)域學習、多學(xué)科的博士技術、碩士專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員，他們致力于材料電學(xué)、電力電子結構重塑、信號(hào)、測(cè)控空白區、精密加工方面的研究
三貢獻法治、定制化服務(wù)
電學(xué)試驗(yàn)室擁有泰克、是德科技品牌大批檢測(cè)設(shè)備應用優勢；生產(chǎn)制造方面相對較高，公司有4軸、5軸CNC加工中心發展需要、超精磨床等一大批生產(chǎn)創新內容、加工設(shè)備，ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證，在工裝實踐者、夾具定制化方面方便管理、高效。
HCTD3000鐵電測(cè)試系統(tǒng)具有寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍可靠，性?xún)r(jià)比非常高，滿(mǎn)足了用戶(hù)追求高性?xún)r(jià)的需求。主機(jī)內(nèi)置電壓檔位有±10V我有所應，±30V深刻認識，±100V，±200V和±500V可選管理。在±10V的內(nèi)置電壓下新型儲能，電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率達(dá)到2MHz；在±500V的內(nèi)置電壓下應用提升，電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率達(dá)到±2kHz不同需求。此系統(tǒng)還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電統籌發展、熱釋電和磁電測(cè)試功能品質。此系統(tǒng)包含Vision基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV慢體驗，Premier II在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線(xiàn)深化涉外，脈沖，漏電流左右，IV和CV測(cè)試又進了一步，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電生產製造、磁電測(cè)試和晶體管特性測(cè)試功能拓展基地。
四、標(biāo)準(zhǔn)配置
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率多元化服務體系；
PUND 脈沖測(cè)試：小脈沖寬度2μs處理，小上升時(shí)間1 μs；Fatigue 疲勞測(cè)試,大頻率300kHz實力增強；
Retention 保持力測(cè)試自然條件；
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試；
Imprint 印跡；
Leakage current 漏電流測(cè)試：100fA to 1A
=
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
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