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簡要描述：功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電提升行動、壓電更適合、熱釋電、介電交流、絕緣電阻等電學(xué)測試引人註目，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試溝通協調。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議拓展、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的接口活動。無論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來易于擴(kuò)展。節(jié)省改造時間與硬件成本推進一步。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-05-31訪 問 量：2355產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
鐵電參數(shù)測試功能
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試；
PUND 脈沖測試開拓創新；Fatigue 疲勞測試確定性；Retention保持力；
Imprint印跡去完善；Leakage current漏電流測試意料之外；Thermo Measurement 變溫測試功能。
壓電參數(shù)測試功能
可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測試設備，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量橋梁作用。
熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測試。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)講故事、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時間的曲線單產提升。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃基礎、室溫到600℃日漸深入、室溫到800℃
介電溫譜測試功能
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z引領作用、電抗X預期、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B顯示、電感L、介電損耗D大局、因數(shù)Q等物理量豐富內涵，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率效率和安、時間就能壓製、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試產能提升。
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC
用于研究材功材料的一些關(guān)鍵因素發揮，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變適應能力、玻璃化溫度等等設施，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性快速增長。
絕緣電阻測試功能
電壓輸出與電流測量要求，保障測試的，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測通過活化。例如：陶瓷材料開放以來、硅橡膠測試、PCB防控、云母組合運用、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的測試高質量。
高溫四探針測試功能
符合功能材料導(dǎo)體研究與應用、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量迎難而上。
塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體有效保障，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件設計標準，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃深度，高阻選件高至10MΩ。
電卡效應(yīng)測試功能
還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡經過。
溫度范圍：-50℃到200℃帶來全新智能、熱流時間范圍：1s-1000s，大電壓可達(dá)10kV核心技術體系，
波形：用戶自定自主研發、脈沖、三角波新產品、正弦波意向、任意波形、預(yù)定義波形更加廣闊。
功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
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