
當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 功能材料測(cè)試儀器 > 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) > HC華測(cè)國(guó)產(chǎn)功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)鐵電儀定制簡(jiǎn)要描述:華測(cè)國(guó)產(chǎn)功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)鐵電儀定制,國(guó)產(chǎn)/定制具有多種測(cè)試功能適應性強,包括鐵電參數(shù)測(cè)試技術交流、壓電參數(shù)測(cè)試、熱釋電測(cè)試以及絕緣電阻測(cè)試等拓展。具體來說創造更多,它可以完成功能材料的鐵電、壓電不斷進步、熱釋電工藝技術、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試規模,并具備動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試近年來、靜態(tài)電滯回線測(cè)試、脈沖測(cè)試發展目標奮鬥、疲勞測(cè)試技術先進、保持力測(cè)試、印跡測(cè)試延伸、漏電流測(cè)試以及變溫測(cè)試等功能認為。
產(chǎn)品分類
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| 品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
HC功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)
HC功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)-國(guó)產(chǎn)/定制產(chǎn)品簡(jiǎn)介
HC功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)-國(guó)產(chǎn)/定制可完成功能材料鐵電、壓電新的力量、熱釋電先進水平、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試全面展示,以及高重要平臺、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議共同學習、數(shù)據(jù)庫處理順滑地配合、軟件兼容性做了大量的接口深入。無論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來更易于擴(kuò)展前沿技術。更加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本基礎。


強(qiáng)大的測(cè)試功能
鐵電參數(shù)測(cè)試功能
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率;
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試;
PUND 脈沖測(cè)試多種方式;
Fatigue 疲勞測(cè)試對外開放;
Retention保持力;
Imprint印跡深入交流研討;
Leakage current漏電流測(cè)試資料;
Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能
壓電參數(shù)測(cè)試功能
可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試,也可通過高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量關註度。
熱釋電測(cè)試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試橫向協同。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)更讓我明白了、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線迎難而上。
薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;
塊體材料變溫范圍:室溫到200℃探索、室溫到600℃堅持先行、室溫到800℃
介電溫譜測(cè)試功能
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z滿意度、電抗X情況較常見、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G主要抓手、電納B體製、電感L、介電損耗D創新科技、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量服務延伸,同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率具有重要意義、時(shí)間進一步、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試強大的功能。
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC
用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素提高,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變的特性、玻璃化溫度等等交流,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性提供堅實支撐。
絕緣電阻測(cè)試功能
高精zhun度的電壓輸出與電流測(cè)量還不大,保障測(cè)試的品質(zhì)高產,適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如:陶瓷材料力度、硅橡膠測(cè)試明確了方向、PCB、云母勇探新路、四氟材料電阻測(cè)試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測(cè)試傳遞。
高溫四探針測(cè)試功能
符合功能材料導(dǎo)體試驗、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量開展攻關合作。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)製度保障。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體的有效手段,陶瓷材料統籌推進,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測(cè)量選件關鍵技術,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃了解情況,高阻選件高至10MΩ。
電卡效應(yīng)測(cè)試功能
還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能技術研究。
溫度范圍:-50℃到200℃重要的、熱流時(shí)間范圍:1s-1000s,
zui大電壓可達(dá)10kV姿勢,
波形:用戶自定相互融合、脈沖、三角波綠色化、正弦波不同需求、任意波形、預(yù)定義波形保持穩定。


價(jià)格說明:所標(biāo)價(jià)格均為參考價(jià)格支撐作用,可聯(lián)系客服或銷售人員具體報(bào)價(jià)。
售后服務(wù):
1相關、保修期內(nèi)零部件免費(fèi)換大力發展,保證有充足的部件或配件,并承擔(dān)修理生產效率、調(diào)換或退貨的實(shí)際費(fèi)用產能提升,超過保修期后,如需要換零部件時(shí)節點,已優(yōu)惠價(jià)格8折提供通過活化,僅收取配件費(fèi)落地生根,在退換過程中我公司最多不超過2天,24小時(shí)服務(wù)熱線健康發展,1小時(shí)內(nèi)響應(yīng)有效保障,維修人員及時(shí)到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)維修,排除故障長效機製;如在12小時(shí)內(nèi)不能將故障設(shè)備修好講實踐,將提供同等型號(hào)的備用設(shè)備,待設(shè)備修好后奮戰不懈,在收回備用設(shè)備市場開拓。
2、提供完整的隨機(jī)資料大大縮短,包括完整的使用手冊(cè)等要落實好,并提供免費(fèi)的培訓(xùn)和資料。
華測(cè)國(guó)產(chǎn)功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)鐵電儀定制
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