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華測(cè)國(guó)產(chǎn)功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)鐵電儀定制

簡(jiǎn)要描述:華測(cè)國(guó)產(chǎn)功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)鐵電儀定制真正做到,國(guó)產(chǎn)/定制具有多種測(cè)試功能發展邏輯,包括鐵電參數(shù)測(cè)試、壓電參數(shù)測(cè)試追求卓越、熱釋電測(cè)試以及絕緣電阻測(cè)試等發展機遇。具體來(lái)說(shuō),它可以完成功能材料的鐵電性能、壓電、熱釋電、介電強化意識、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試聽得進,并具備動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試、靜態(tài)電滯回線測(cè)試合理需求、脈沖測(cè)試全技術方案、疲勞測(cè)試、保持力測(cè)試先進水平、印跡測(cè)試特點、漏電流測(cè)試以及變溫測(cè)試等功能。

  • 產(chǎn)品型號(hào):HC
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-12-04
  • 訪  問  量:1478

詳細(xì)介紹

品牌HUACE/北京華測(cè)產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子,航天,電氣,綜合


HC功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)


HC功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)-國(guó)產(chǎn)/定制產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HC功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)-國(guó)產(chǎn)/定制可完成功能材料鐵電增幅最大、壓電具體而言、熱釋電、介電滿意度、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試奮戰不懈,以及高生產能力、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議規定、數(shù)據(jù)庫(kù)處理可持續、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面示範推廣,使本套儀器在未來(lái)更易于擴(kuò)展情況。更加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。


強(qiáng)大的測(cè)試功能

鐵電參數(shù)測(cè)試功能

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試大大縮短;

PUND 脈沖測(cè)試堅持好;

Fatigue 疲勞測(cè)試;

Retention保持力高質量;

Imprint印跡構建;

Leakage current漏電流測(cè)試;

Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能

壓電參數(shù)測(cè)試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試大幅增加,也可通過高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量平臺建設。

熱釋電測(cè)試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流探討、熱釋電系數(shù)新技術、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。

薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃共創美好;

塊體材料變溫范圍:室溫到200℃趨勢、室溫到600℃、室溫到800℃

介電溫譜測(cè)試功能

用于分析寬頻預判、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y調解製度、電導(dǎo)G創新為先、電納B、電感L統籌推進、介電損耗D行業內卷、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度科普活動、頻率凝聚力量、時(shí)間、偏壓變化的曲線逐漸完善。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試。

熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC

用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變參與能力、玻璃化溫度等等法治力量,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性新的力量。

絕緣電阻測(cè)試功能

精zhun度的電壓輸出與電流測(cè)量技術研究,保障測(cè)試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)說服力。例如:陶瓷材料的積極性、硅橡膠測(cè)試更多可能性、PCB深刻變革、云母、四氟材料電阻測(cè)試分析、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測(cè)試至關重要。

高溫四探針測(cè)試功能

符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量表示。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途緊迫性。

塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體質生產力,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析非常激烈;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測(cè)量選件提升行動,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,高阻選件高至10MΩ技術交流。

電卡效應(yīng)測(cè)試功能

還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能環境。

溫度范圍:-50℃到200℃、熱流時(shí)間范圍:1s-1000s保障,

zui大電壓可達(dá)10kV重要的角色,

波形:用戶自定、脈沖體製、三角波要落實好、正弦波、任意波形向好態勢、預(yù)定義波形相對簡便。

華測(cè)國(guó)產(chǎn)功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)鐵電儀定制

華測(cè)國(guó)產(chǎn)功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)鐵電儀定制


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