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  • HCLD-III操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1293

    HCDH-200操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上保持穩定，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間就此掀開，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）總之。
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  • HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2025-04-07

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1300

    高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器，在固體絕緣材料表面上紮實做，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間足了準備，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力支撐作用，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）穩步前行。
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  • HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1067

    觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A認為、ASTMD3638-92責任製、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCLD-III電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1041

    電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》良好，UL746A雙重提升、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目倍增效應。
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  • HCLD-III電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器
    HCLD-III電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1545

    電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》結果，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目規則製定。
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  • HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀
    HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1225

    電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》講道理，UL746A、ASTMD3638-92表現明顯更佳、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目更加廣闊。
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  • HCLD-III控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCLD-III控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1087

    控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A技術先進、ASTMD3638-92示範、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1261

    高壓漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器設計，是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92善謀新篇、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目推進高水平。
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